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晶圆级 文章

史密斯英特康推出晶圆级封装测试头Volta 200 系列

  • 便携式及手持智能电子设备的小型化对芯片功能集成的要求日益复杂,芯片的微型化及引脚间距越来越小给产品的最终测试带来了技术挑战和成本压力,也让越来越多的客户采用晶圆级封装测试和晶圆级芯片封装测试的方案。史密斯英特康推出的Volta系列测试头适用于200µm间距及以上晶圆级封装测试,为高可靠性WLP(晶圆级封装)、WLCSP(晶圆级芯片封装)和KGD(已确认的好的裸片)测试提供更多优势,可满足客户对更高引脚数、更小间距尺寸、更高频率和更高并行度测试的要求。Volta独特的设计具有极短的信号路径,低接触电阻,可实
  • 关键字: 晶圆级  封装测试头  Volta 200 系列  

晶圆级可靠性测试:器件开发的关键步骤(二)

  • 可靠性测试仪器的发展趋势  就像前文所指出的那样,可靠性测试需要与新器件的设计和新材料的使用密切关联 ...
  • 关键字: 晶圆级  可靠性测试  器件开发  

晶圆级可靠性测试:器件开发的关键步骤(一)

  • 摘要 随着器件尺寸的持续减小,以及在器件的制造中不断使用新材料,对晶圆级可靠性测试的要求越来越高。在器件 ...
  • 关键字: 晶圆级  可靠性测试  

IC芯片的晶圆级射频测试

  • 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
  • 关键字: IC芯片  晶圆级  射频测试  I-V/C-V测试  

一种创新的晶圆级热载子并行测试方法

  • 引言
    随着VLSI集成度的日益提高,MOS器件尺寸不断缩小至亚微米乃至深亚微米,热载子效应已成为最严重的可靠性问题之一。现今,为了降低成本,减少周期,不断的提高工艺,晶圆级的器件可靠性测试愈来愈被广泛的应用。纵观
  • 关键字: 创新  并行测试  晶圆级  方法    

用于通用X射线应用的晶圆级有源像素CMOS图像传感器

  • 摘要: 本文以使用标准CMOS技术和有源像素架构的CMOS有源像素传感器为研究对象。该传感器专为X射线成像系统而设计,具有噪声低和感光度高等特点。这种传感器已使用标准0.35μm技术和8″晶圆得到生产。传感器分辨率为每40 x 40μm2 面积3360 x 3348像素。其对角长度略大于190mm。本文对传感器的图纸设计、拼接图和已得到开发的电子光学性能进行了论述。       &nbs
  • 关键字: CMOS  X射线  电源技术  晶圆级  模拟技术  图像传感器  有源像素  其他IC  制程  设备诊断类  
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晶圆级介绍

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