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复杂RF环境下的RFID测试挑战

—— RFID Test Challenges Based on Complex RF Environment
作者:Louise Parker 泰克公司时间:2009-06-15来源:电子产品世界收藏

  随着设备价格的下降及全球市场扩大,ID应用正面临飞速发展。嵌入式ID的使用量不断提高,随着泛在ID中心(Ubiquitous ID Center)和T引擎论坛(T-Engine Forum)等协调性机构的形成,GSM协会现已支持将基于ID的近场通信技术运用于手机中。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/95266.htm

  的一大挑战是在复杂的、甚至苛刻的RF环境中优化吞吐量或数据读取速度。无源标签可以对射频范围内的任何一个或多个阅读器做出反应。协议中规定了这些通信的行为,但在实际的通信过程中,如果没有适当的设备,则很难对其进行测试。此外,在集成到采用蜂窝技术、WLAN、蓝牙或Zigbee技术的同一台设备中时,也需要运行嵌入式系统。最后,必须考虑同一频段中其它用户发出的干扰。

  其结果是,在部署前就有必要仿真复杂的RF环境,并分析RFID系统在这些条件下的性能。RFID的脉冲式特点和典型的干扰源令测试任务变得更富挑战性。

  RFID技术概述

  最简单的RFID系统由一个标签(可以是无源标签)和一个阅读器组成。从结构上看,无源标签的读取与传统全双工数据链路略有不同。与传统有源数据链路不同的是,无源标签依赖其收到的RF能量为自身供电。无源标签同样不会生成自己的传送载波信号,而是调制询问器发送到标签的部分能量,这一过程称为反向散射。

  通过把标签的天线负荷从吸收负荷改变为反射负荷,可以调制来自询问器的连续波 (CW) 信号。这个过程与利用镜子和阳光向远处某人发送信号的过程非常类似。此外,这样还消除了标签中对高精度频率来源和功率密集型发射机的需求。由于阅读器和标签共享相同的频率,它们必须轮流发送信息。因此,反向散射把阅读器和标签之间的通信限定在半双工系统上。

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