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如何降低测试系统开关噪声(04-100)

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作者:时间:2008-04-01来源:电子产品世界收藏

  解决问题的步骤

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/81053.htm

  解决问题有3个步骤

  ·必须识别源;

  ·必须确定接收点;

  ·必须确定耦合方法。

  至于开关系统中的内部噪声源可由下列原因产生:驱动开关的电路,开关上的热不稳定性,来自系统中其他导体的耦合噪声和系统外部所产生的噪声。

  来自邻通道的噪声耦合到测量通道,对信号完整性是一个威胁。耦合噪声的最重要的原因是电导耦合,共阻抗耦合以及电场和磁场。

  另外,某些系统对来自电动作、热耦噪声、电解动作,热电效应和导体运动引起的噪声敏感。开关系统电路也对来自无线电、电视和其他无线广播的电磁辐射敏感。

  用机械设计可使热不稳定性最小,保证继电器中的所有接触点得到在引脚线中相同的温度梯度,或用闭锁继电器使热稳定度最小,只要有可能,就采用闭锁继电器,闭锁继电器绕组被激励只是瞬时,通常15~20ms使继电器触点传输和闭锁。从而使热产生源减少,而对于采用非闭锁电枢继电器来讲,这是主要的热产生源。

  适当地屏蔽和接地技术可有效地解决硬连线系统中的很多噪声耦合问题。但是,当信号必须选择开关到示波器、计数器或其他测量仪器时,问题变得严重了。

  很多情况下,噪声源是系统中的邻通道串扰。在简化的等效电路(图2)中,开关系统中的大多数寄生电容跨接在断开触点和邻近导通通路之间。如同任何电容那样,噪声耦合是面积和距离的函数。所以,降低耦合的简单方法是开关和导线彼此之间的分离。



关键词: 测试 噪声 DUT

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