针对无线测试的几种并行测试架构探讨

　　近几年来发展最为迅猛的一项技术是无线局域网(WLAN)技术。尽管这项技术最初由于笔记本电脑、智能手机和平板电脑等个人设备的普及而得到快速发展，但市场调查表明这一发展势头仍将保持迅猛，因为WLAN技术越来越广泛地应用到更多的消费类设备中，这一个生态系统也被扩展使用到“物联网”中。

　　不仅是WLAN服务需要得到更广泛的应用，802.11ac等新标准也将为设备提供所需的带宽来满足视频流等更高级的应用。对于设备制造商而言，这意味着测 试方法也需要与时俱进才能应对制造需求的快速增长，而且需要在维持相同质量水平的同时降低成本。如果采用多待测设备(DUT)测试架构，企业将可大幅缩短 实现这些目标所需的时间。

　　I.WLAN设备的生产测试

　　过去，WLAN生产测试方 法通常是通过连接一个运行良好的设备(也称为“黄金样本”)和功率计来测量数据吞吐量和验证信号电平。近几年来，企业越来越多地采用更先进的发射和接收测 试来进行误差矢量幅度(EVM)、频谱掩模、发射功率、分组错误率(PER)和接收机灵敏度等测量。这种新测试方法的实现是基于WLAN芯片组供应商为客 户提供了所需的软件来控制嵌入到设备中的芯片。通过直接控制待测设备而无需与设备进行无线通信，测试厂商和最终用户可在拓宽测试覆盖范围的同时更快速开发 应用。

　　A.信令

　　在传统的信令测试中，对于WLAN测试， 测试系统通常用于模拟无线接入点，而对于蜂窝测试，测试系统则用于模拟基站。信令测试的优势是既可测试标准物理(PHY)层，又可测试媒体访问控制 (MAC)协议层。通过模拟无线接入点来测试MAC层对设计和验证过程非常有用，但在生产测试中这一功能通常是不必要的。此外，信令测试需要在测试系统上 实现一个完整的协议栈，而且速度比非信令测试要慢得多，因为信令测试是用于真正的网络运行，而不是用于极其快速的生产测试。相反，非信令测试针对生产应用 优化了速度，使待测设备可快速完成功率电平、带宽、通道或频率以及调制方案等参数测试[1]，从而帮助设备制造商拓宽测试覆盖范围，而且不会延长测试时 间。有利当然也有弊——非信令测试的主要缺点是芯片供应商的DUT控制需要进行额外的前期开发。

　　B.WLAN非信令测试框架

　　典 型的非信令WLAN测试系统通过一个主机进行控制，主机运行的测试执行程序可读取文件的测试矢量和测量设置、运行所需的测试，并将结果写入日志文件或数据 库。测试执行程序调用应用程序编程接口(API)来控制测试仪器，这些测试仪器通常包括一个或多个矢量信号分析仪、矢量信号发生器或者矢量信号收发仪。此 外，测试执行程序还通过调用WLAN测量算法来对所采集的数据进行测量。

　　非信令测试还要求主机具有芯片组供应商提供的芯片组控制库才能在非信令模式下控制DUT。图1显示了这些组件如何构成一个典型的WLAN非信令测试框架。

　　图1：典型的WLAN非信令测试框架