针对无线测试的几种并行测试架构探讨

　　II.多DUT测试可提高测试吞吐量

　　尽管近几年来设备制造商普遍采用非信令测试来大幅缩短测试时间，但 是更复杂的新无线技术的出现以及产品周期的不断缩短进一步增加了减少测试时间和成本的压力。例如，802.11ac通过增加新的数据速率、带宽以及空间流 扩展了802.11n。随着设备制造商将802.11ac应用到产品中，他们不仅需要测试这个新标准，而且为了保持向后兼容性，还需要继续测试以前的标 准。

　　此类因素显著增加了测试时间，继而增加了测试成本。新的解决方案是芯片组供应商、测试厂商以及最终用户通过并行测试多台 设备来最大限度提高效率，这一方法也称为“多DUT”测试。通过利用最新的多DUT测试软硬件架构，设备制造商可以显著增加他们的生产测试吞吐量而不会增 加测试成本。这里来研究和比较各种多DUT测试方案，其中图2所示的方案是使用一个VSA+VSG或VST通过一个开关矩阵来测试4个DUT。

　　图2：多DUT硬件配置范例

　　这里基于这一测试配置来讨论不同的方法。为了比较这些方法，此处将一个典型的WLAN测试分成以下几个常见的步骤，并规定了它们的相对时间单位，如表1所示。

　　表1，WLAN测试的常见组成元素

　　这 些步骤中耗时最长的是与待测设备进行通信来实现正确运行模式所需的时间。取决于DUT和测试计划，DUT控制时间可占总测试时间的45%~90%。因此， 如果要开发一个具有最低总测试成本的测试系统，则该系统必须具有低的测试设备成本，同时使测试设备的待机时间降到最低。

　　C.串行测试

　　在传统的测试计划中，设备通过一个由夹具和射频仪器支持的测试站进行串行测试。测试顺序与图3中所示的时间框图相似。此类测试应用的主要优势是非常易于实现。然而，这种方法并没有利用任何类型的软件或硬件并行机制，从而导致所有DUT启动期间RF仪器均处于待机状态。

　　图3：串行测试时间框图

　　D.流水线

　　利用多线程并行软件架构和外部开关电路，已经完成启动的DUT在执行TX和RX测试时，并行软件线程可控驱动下一个DUT的启动过程，从而实现测试的流水线执行。这种方法减少了仪器的停机时间，缩短了高达35%的测试时间，如图4所示。

　　图4：流水线测试的时间框图

　　E.并行RX测试

　　另一种减少测试时间的方法是通过向多个DUT发送相同的波形来同时执行多个RX测试。通过将每个DUT分配到相应的软件线程，所有DUT均可同时启动。使用如图5所示的技术，多DUT的测试时间相比流水线测试可减少25%，相比串行测试设备可减少超过50%。

　　图5：并行RX测试时间框图