使用宽频率范围矢量网络分析仪应对高速互联测试的挑战
图1: 毫米波矢网VectorStar Broadband ME7838A 系统 配合3743A 毫米波模块
更高的数据传输速率引入新的设计挑战（如印刷电路板的导体趋肤效应和介电损耗），以及设计权衡相关的过孔，叠层，和连接器引脚。评估的背板材料的选择和各种结构的影响，需要在频域和时域进行精确的测量。精确的测量为成本/性能权衡决策提供了信心。其目的是通过眼图评估互连的影响。图2示出背板在眼图上的影响的一个例子。
图2: 背板在眼图上的影响
准确的模型有助于加快设计周期。然而，模型好坏仅取决于模型加载的参数，不准确的参数会最终导致仿真结果的不准确，潜在的衔接问题和不精确。反之，低频测试信息不准确导致的直流外推误差，也降低了模型的准确性，并与3维电磁仿真结果不一致。
在很多情况下可能无法直接连接到被测设备（DUT）。在这些情况下，去嵌入DUT周围的测试夹具就很有必要。有时需要与此相反的过程：对于某个器件，当周围环绕其他网络时，使用嵌入功能来评估器件的性能。然而，许多消极和本质的问题是由于不良的校准和去嵌入方法。此外，高的夹具损耗可能会影响去嵌入的准确性和可重复性。幸运的是，面对这些挑战，最新的矢量网络分析仪技术可以提供解决方案。
最大频率范围
高端和低端的频率范围限制了对背板或其它互连的S-参数表征，并影响数据质量和任何后续的建模，但原因不同。通常首先想到的是高端的频率范围，许多人对NRZ时钟频率3次或5次谐波进行测量。对于一个28 Gbps的数据传输速率，这意味着一个42 GHz或70 GHz截止频率的S-参数扫描。另一种对测量频率上限的考虑是基于因果性。当S-参数数据被转换成时域用于进一步仿真，因果性误差可能会出现。
对频域数据整理时，可以减少这些问题，有很多潜在的问题与对设备实际特性的曲解相关。要使仿真更安全，更准确，使用尽可能宽的频率范围– 直到最高频点的重复性和失真（例如，DUT开始有效地辐射，测量非常依赖周围环境）会影响测试结果。由于在更高层次的仿真中，正在研究更快和更复杂的瞬态响应，所以更宽频率范围数据的需求变得更强烈。
图3: 当低频测试数据有错误时，眼图仿真的结果
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