测汞仪消除干扰的方法

　　仪器主要包括发射253.7纳米谱线的汞灯，气体吸收室及光电放大和测量等装置。进入吸收室的气体样品，如含有微迹的汞，则通过吸收室的光线会因部分被汞吸收而减弱。根据光线减弱的程度可以测出气体中的汞含量。二氧化硫及许多稀有气体253.7纳米谱线邻近。对谱线都显著的吸收。因而产生严重的干扰。由于消除干扰方法的不同而设计制成了多种类型的测汞仪。

　　例如：

　　①利用贵金属捕集器使汞被截留，使干扰气体逸去

　　②使样品气流分成两股，将一股中的汞事先移除，然后比较同一光源通过两个吸收室时的输出

　　③利用压致展宽效应，将通过吸收室后的光线分成两股，一股再通过饱和汞蒸气室，然后测量两股透出光线强度的比值

　　④利用“塞曼效应”，比较在光源上施加磁场与不加磁场时，通过吸收室的光线强度的比值。根据实用上的要求，已制成了装在汽车及飞机上进行连续测定汞的仪器，以及能就地进行测定的轻便背包式的测汞仪器等。