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提供高效电源测试解决方案,泰克亮相美国电力电子应用展览会APEC

作者:时间:2024-03-25来源:EEPW收藏

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本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/202403/456779.htm

在刚刚举办的美国国际)上,和 EA共同展示最新技术和创新成果。和 EA 的专家团队同参加本次展览会,并就测量解决方案和电力电子技术的最新成果进行深入探讨。

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5系列MSO示波器 - PE Systems双脉冲测试系统

要对功率器件中使用的宽禁带半导体进行动态响应和开关损耗评估,双脉冲测试(DPT)极其重要。泰克与PE-Systems合作推出了一个自动化系统,利用泰克5系列MSO示波器,采用模块化和可变温度测量方法对各种电压范围进行测量。

针对SiC/GaN的WBG双脉冲测试

泰克借助符合JEDEC和IEC标准的自动测量解决方案简化了设备验证。该解决方案采用一系列探头和获得专利的时序偏差校准算法,可准确捕获开关参数。与泰克函数发生器和Keithley功率器件相结合,则构成了一个宽禁带器件全面测试端到端解决方案。

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泰克5系列薄型示波器电机驱动测试解决方案

IMDA解决方案为汽车工程师进行三相逆变器和电机驱动分析提供必要的测量数据,有助于提高测试效率,减小器件尺寸、重量和成本。该解决方案包括静态相量、DQ0和谐波分析,以及趋势图动态分析,用于评估电机的响应特性,例如启动/停止曲线。

功率半导体CV/IV特性测试

CV/IV特性测试对于评估功率半导体器件,尤其是用于功率转换的开关设备,至关重要。Keithley 4200A用于CV特性测量,而2651A Source Meter用于直流IV特性测量,可确定功率半导体在开启状态下的最大输出功率。在测试过程中,使用指定的 8010测试夹具可确保测试的安全性和准确性,对于所有Keithley源测量单元(SMU)产品,还可借助ACS软件简化测试过程。

此外,EA对以下产品进行演示:

●   EA 的三通道输出双向可再生电源EA BT 20000

●   EA的60kW高功率密度、6U双向可编程电源,可以通过机架堆叠方式提供高达3.84MW的输出功率

在展商演讲环节,John Tucker与Chris Loberg共同深入探讨了高功率电子元件的安全处理与测试问题。他们的演讲聚焦于尖端的碳化硅和氮化镓技术,介绍了确保工作场所安全的高效探测技术。与会者对 IMDA 和双脉冲表现出浓厚的兴趣,同时对隔离探头和4系列MSO也给予了高度关注。

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