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一种可控硅驱动芯片烧毁的分析

作者:时间:2018-08-10来源:网络收藏

现如今依靠驱动已经变得较为普遍。但随着驱动应用的频繁,一些在使用当中的问题也逐渐暴露出来,比如在一些驱动电路中加上芯片之后,芯片就会无端烧毁。本文就将从实例出发,介绍一种可控硅驱动芯片烧毁的情况并进行分析。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201808/386264.htm

图1

电路如图1所示,板子焊好后单片机先输出脉冲测试硬件回路,但驱动回路一上电,ULN2003便会烧毁,使用ULN2003的设计很多,但为什么这个设计的却会烧毁呢?难道在软件上要做处理?还是电路有问题?

上电时脉冲关闭,所以不会烧,但只要打开脉冲就会烧毁,对脉冲变压器的原边电阻进行测量,数值只有7-8欧,通过计算之后电流肯定超过了ULN2003的500mA,通过把脉冲变窄,但还是烧芯片。是否需要在原边串联一个限流电阻呢?

下面对以上的例子进行分析。首先负载已经过重,串电阻限流。如果变压器本身的额定工作电压就是24V,那么应采用分立的功率晶体管驱动。变压器的额定工作电压就是24V,在串电阻限流后,脉冲没那有输入那么宽,只能采用分立的功率晶体管驱动。

在24V供电的情况下,ULN2003的负载是3:1的触发变压器,因为可控硅触发电压是7V。此电路的关键之处是2003输出低电平时间是几十微秒(具体数值参看可控硅触发变压器说明书)量级的,如果到了微秒一级,触发变压器饱和电流快速增大,2003烧毁是必须的,不存在幸存的任何可能。



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