简述BSDL边界扫描语言，BSDL边界扫描语言的应用

BSDL边界扫描语言的边界扫描是一个完善的测试技术。 边界扫描在自当联合测试行动组(JTAG)90年代初发明了一种解决方案来测试使用了许多新的印刷电路，正在开发和制造的地方几乎没有或根本没有测试探针板的物理访问。 一旦边界扫描成立后，下一步是制定一个标准的芯片供应商的模型边界扫描设备，工具供应商开发自动化工具，以及为最终用户创建的边界扫描测试的建模语言。 因此，边界扫描描述语言(BSDL)已建立。

BSDL是边界扫描设备的标准建模语言。 它的语法是一个VHDL的子集，它符合IEEE 1149.1-2001的规定。 它是由使用边界扫描测试开发人员，设备模拟器，半导体测试仪，电路板级测试，任何人利用边界扫描。 使用的的BSDL促进整个电子行业的一致性。 此外，它使任何边界扫描中的一个有用的，可以理解的，一致的方式和设备的功能规范。

BSDL走出了边界扫描测试哲学的发展。 最初的IEEE 1149.1-1990标准的(见[符合IEEE 1149.1(JTAG接口)])标准描述的边界扫描并于1990年批准发布，并作为结果，使用边界扫描技术开始增长。 该标准的下一次修订在1993年发生。 在1994年进一步修订纳入了IEEE 1149.1-1994标准的BSDL。

什么是的BSDL?

边界扫描描述语言使用户能够提供的方式，边界扫描在任何特定的设备实施的说明。 由于每个芯片设计趋于应用边界扫描方式略有不同标准，这是一个需要理解的表达，具体和实用的方式测试。是书面的BSDL在VHDL的子集。 VHDL语言是常用的一种为FPGA和ASIC设计输入的数字电路电子设计自动化的语言，因此它是与边界因为许多芯片设计扫描是用这种语言进行工作相适应的。 但是的BSDL是一个“子集和标准做法”的VHDL，即VHDL语言的范围，从而对边界扫描应用受到限制。

设计过程中的BSDL有两种语言的主要标准：

BDSL使设备的使用边界扫描功能，准确和有用的说明。 BSDL文件是所使用的边界扫描工具，使设备的使用功能，使任何测试性分析测试程序生成，?故障诊断，以及使用。 的BSDL不是一个可以用硬件描述语言，相反，它是用来定义设备的数据传输的特点，即它是如何捕获，转变和更新扫描数据。 这才是用于定义测试能力。

BSDL文件包括以下数据：

实体声明 ：本实体声明是一个VHDL构造，是用来识别文件名 的BSDL设备所描述的。

泛型参数 ：通用参数是指定哪个区段包描述。

逻辑端口说明 ：这说明列出了设备的所有连接。 它定义它的基本属性，即是否连接输入(以位;)，输出(OUT位;)，双向(inout的位;)，或者如果它是不可用的边界扫描(连锁位;)。

封装引脚映射 ：包引脚映射被用于确定一个集成电路的内部连接范围内。 它详细介绍了如何在设备上的垫片裸片连接到外部引脚。

USE语句 ：这句话是用来调用BSDL文件VHDL语言包，该数据包含在所引用。

扫描端口标识 ：扫描端口标识识别引脚的JTAG执行工作/这是用于边界扫描。 这些措施包括：TDI的，商品说明条例，训练管理系统，TCK和TRST的(如果使用)。

测试访问端口(TAP)说明 ：本实体提供设备的其他信息的边界扫描和JTAG逻辑。 这些数据包括指令寄存器的长度，指令操作码，设备的IDCODE等。

边界寄存器描述 ：这说明提供器件结构的边界扫描单元上。 每个器件引脚上最多可以有三个边界扫描单元，每个单元格组成的一个寄存器锁存器和一个。

BSDL怎样使用?

当电路板的设计，边界扫描兼容设备被组织成“链”。 扫描链构成了板级和系统级的测试，可以检测和诊断引脚层次的结构性缺陷，如开路和短路的基础。 自动化工具用于生成测试方案或议会的程序。 最重要的投入，这个过程是边界扫描功能的设备的BSDL文件，以及网表描述板之间的互连的设备。 生成的测试程序，当应用到目标板，报告的结构测试失败，可以用来帮助板维修。

有些工具能够使用边界扫描创造集群的组件包括非边界扫描兼容设备的测试模式，和其他工具可以生成测试模式，一个板上处理器可以运行，以便能够在高速功能测试。 这些测试应用程序独立或与其他测试技术，如在电路，结合测试(ICT)的，具有生产以最低的成本最优的测试覆盖的总体目标和最短的测试开发时间。

边界扫描语言的BSDL，被广泛用于在IEEE 1149.1 / JTAG的社会使一致，准确和有用的资料供边界扫描功能的设备定义。 通过这种方式，该芯片可以被纳入一个设计，它的功能用在最有效的方式充分。

边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用

1、引言

“边界扫描”是一种可测性设计技术，即在电子系统的设计阶段就考虑其测试问题[1]。

BSDL(boundary scan des cripTIon language) 语言硬件描述语言(VHDL)的一个子集，是对边界扫描器件的边界扫描特性的描述，主要用来沟通边界扫描器件厂商、用户与测试工具之间的联系，其应用包括：厂商将BSDL描述作为边界扫描器件的一部分提供给用户;BSDL描述为自动测试图形生成(ATPG)工具测试特定的电路板提供相关信息;在BSDL 的支持下生成由IEEE1149.1标准定义的测试逻辑 [2]。现在，BSDL语言已经正式成为IEEE1149.1标准文件的附件。BSDL本身不是一种通用的硬件描述语言，但它可与软件工具结合起来用于测试生成、结果分析和故障诊断。每一边界扫描器件都附有特定的BSDL描述文件，为了论述的方便，本文将以Altera公司的CPLD器件 EPM7128SL84 芯片为例说明BSDL描述在测试中的应用。

2、EPM7128SL84芯片的BSDL描述

该器件采用了先进的CMOS EEPROM制造工艺，共有84个引脚，其中包括四个JTAG测试引脚 TDI、TMS、TCK和TDO，通过标准JTAG测试接口它还可以支持在系统可编程(ISP)。下面首先讨论EPM7128SL84的BSDL描述中与应用相关的各基本元素。

2.1 TAP描述

TAP描述说明与TAP控制器相关的特性。TAP 控制器包括4个或5个控制信号，一个用户定义的指令集(在IEEE1149.1标准规定范围内)和一些可选择的数据寄存器。EPM7128SL84的 TAP描述有：