R&S RTO示波器提供支持5Gbps高速串行接口的新测试选件

　　高速串行通讯接口，例如SuperSpeed USB和PCIe，已经进入很多电路设计。开发人员需要方便易用的工具来支持此类接口的电路调试。罗德与施瓦茨公司推出了针对此类应用紧凑完整的测试方案。该方案由R&S RTO2064示波器、支持众多接口标准的测试选件以及R&S RT-ZM宽带模块化探头组成。最新的测试选件支持SuperSpeed USB (USB3.1 Gen1)、PCIe 1.1/2/0和USB-PD协议触发和解码，同时支持PCIe 1.1/2.0的一致性测试。

　　详实的协议分析，细节一目了然

　　全新的触发和解码选件帮助用户轻松发现SuperSpeed USB、PCIe 2.0和USB-PD传输中的错误。这些选件可以对用户定义的协议事件进行触发和解码，借助R&S RTO2000系列示波器完成与协议触发事件时间相关的时频域测试分析，使故障原因一目了然。分析结果也可通过具备协议细节和相关时间标签的表格显示。同时，全新选件还具备对不同协议层进行分析的能力。例如，为了追溯协议错误到最底层的bit层，用户可以选择Bit位显示、符号显示或具有特定帧起始、地址和数据的协议显示。利用这一强大工具，用户可以实现快速的协议调试和分析。

　　PCIe 1.1/2.0物理层一致性测试

　　针对PCI Express，罗德与施瓦茨公司扩展了一致性测试套件支持PCIe 1.1/2.0标准。分析软件基于PCI-SIG标准，支持标准定义的信号完整性分析。测试选件可实现高达2.5Gbps信号的物理层一致性验证。

　　全新的R&S RTO-K61 USB3.1 Gen1协议触发和解码、R&S RTO-K72 PCIe 1.1/2/0协议触发和解码以及R&S RTO-K81 PCIe 1.1/2.0物理层一致性测试选件支持6GHz 带宽RTO2064示波器。同时还推出了R&S RTE/RTO-K63 USB-PD协议触发和解码选件。上述选件于2017年3月14日开幕的Embedded World 2017纽伦堡国际嵌入式应用展览会上正式发布。