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ESD/EOS,才是电子电路的护法英雄

作者:时间:2016-01-12来源:网络收藏

  随着电子产品迅速走向随身使用化、功能强大化与低功耗化,半导体技术的持续微缩就没有停止的可能性。然而,这样的演变趋势造就了电子产品‘使用可靠性的设计工作’重要性和电子产品‘功能的设计工作’本身一样重要。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201601/285654.htm

  这是因为外在的暂态杂讯干扰能量变得很容易进入电子产品内部,加上电子产品内部的晶片零组件因半导体微缩而变得十分孱弱,从而导致电子产品本身的正常运作就变得易于受到干扰与破坏。

  

 

  Silicon Labs执行长Tyson Tuttle

  而在电子产品‘使用可靠性的设计工作’中,防止静电放电()与过电压()轰击所造成的影响与破坏则是设计重心,因为这两项暂态杂讯已经成为现今电子产品的主要杀手了。

  因此,我们可以预见的是,2016年的电子产品仰赖/保护元件提供有效保护功能的依赖程度将会比2015年更深。另一方面,对于/保护元件的选择也会完全采用与IC一样的矽制程所设计制作的元件,如瞬态电压抑制二极体阵列(TVS array),因为这样才能提供与系统功能晶片一样电性属性的保护规格。

  换言之,以IC设计技术所开发的ESD/EOS保护元件将是2016年的保护IC主角。举例而言,一个工作电压是1.5V的系统,如果不选择以IC设计技术所设计出的ESD/EOS保护元件,则选择的其他保护元件如果不是由于箝制电压太高而无保护效果——如压敏电阻(Varistor),就是箝制电压够低但漏电太高而影响系统正常工作——如齐纳二极体(Zener diode)。

  而利用IC设计技术开发ESD/EOS保护元件的好处,就是其电性设计存在很大的设计空间,无论是元件的导通电压从1V到200V、元件的箝制电压适用于0.9V到100V工作电压的系统以及元件的寄生电容从0.1pF到100pF等都可以设计出来,完全不受材料本身的特性所限制,这样才能为系统设计者提供一个有效工具来完成其产品的‘使用可靠度的设计工作’。

  在下一个杀手级应用出现以前,预计即将出现在2016年电子产品市场且吸引消费者关注的重点将包括产品的‘使用可靠度’这一项,促使系统设计与制造者更加强化其产品的‘使用可靠度设计’,并进一步促使ESD/EOS保护元件得更加普及化。



关键词: ESD EOS

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