采用电波暗室测试电路的RF噪声抑制能力

　　GSM手机的随处可见正导致不需要的RF信号的持续增加，如果电子电路没有足够的RF抑制能力，这些RF信号会导致电路产生的结果失真。为了确保电子电路可靠工作，对于电子电路RF抑制能力的测量已经成为产品设计必不可少的一个环节。本文介绍了一种通用的RF抑制能力测量技术－RF电波暗室测量装置，描述了它的组成和操作方式，并给出了实际测量结果的例子。

　现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA)，这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调，再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围，因此它们会产生不想要的听得见的“嗡嗡”声。由此可见，RF抑制能力较差的电路会对蜂窝电话的RF信号解调，并会产生不希望听到的低频噪音。为了测量产品的质量，测试时需要把电路放在RF环境中测量，该RF环境要与正常操作时电路遇到的环境相当。

　　本文描述了一种通用的集成电路RF噪声抑制能力测量技术。RF抑制能力测试将电路板置于可控制的RF信号电平下，该RF电平代表电路工作时可能受到的干扰强度。这样就产生了一个标准化、结构化的测试方法，使用这种方法能够得到在质量分析中可重复的有用结果。这样的测试结果有助于IC选型，从而获得最能够抵抗RF噪声的电路。

　　可以将被测件(DUT)靠近正在工作的蜂窝电话，以测试其RF敏感度，但是，为了得到一个精确的、具有可重复性的试验结果，需要采用一个固定的测量方法，在可重复的RF场内测试DUT。解决方案是采用RF测试电波暗室，提供一个可精确控制的RF场，其相当于典型移动电话所产生的RF场。

　　下面，我们对Maxim的一款双运放(MAX4232)和一款竞争产品(X)进行RF抑制能力比较测试。

　　图1：双运放的RF噪声抑制能力测量电路(online)

　　RF抑制测试电路(图1)给出了连到待测双运放的电路板连接，每个运算放大器被配置成交流放大器，没有交流输入时，输出设置在1.5V直流电平(VCC = 3V)。反相输入通过1.5环线(模拟输入端的PC引线)短路至地，该环路用来模拟实际引线的的效应，实际引线在工作频率下会作为天线，收集和解调RF信号。通过在输出端连接一个电压表，测量和量化运算放大器的RF噪声抑制能力。

　　图2：RF噪声抑制能力测量装置