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NI PXI数字化仪和LabVIEW抖动分析工具包

—— 增强传统示波器应用的灵活性和性能
作者:时间:2013-04-15来源:电子产品世界收藏

  美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 )于近日发布 数字化仪,并更新了抖动分析工具包。 该数字化仪带有10位垂直分辨率和5 GS/s采样率,它的高速测量垂直分辨率是传统8位的4倍。 单个插槽中具备1.5 GHz的带宽和四个通道,适用于高通道数数字化仪系统的生产测试、研究和设备特性记述。工程师们因此可以结合使用与数字化仪,以及抖动分析工具包中专门为高吞吐量的抖动、眼图和相位噪声测量优化过的函数库,以满足自动化验证和生产测试环境所需。  

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/144206.htm
 

  “NI 数字化仪结合了高速、高通道和高分辨率测量三大特点,让传统的用户突破了使用传统箱型仪器进行自动化测试的界限,”NI模块化仪器研发总监Steve Warntjes表示。 “使用我们的高速数字化仪与LabVIEW抖动分析工具包,可以帮助工程师借助现代PC的处理性能,而不是箱型上传统的嵌入式处理器,加快测量系统的速度。”

  NI PXIe-5162 特性

  • 10位垂直分辨率,可更深入地解读信号
  • 单个3U PXI Express插槽包含4个通道,在一个PXI机箱中可扩展至68个通道
  • 一个通道上5 GS/s的最大采样率或同时使用四个通道,每通道1.25 GS/s采样率

  LabVIEW抖动分析工具包特性

  • 内置时钟恢复、眼图、抖动、电平和时域测量函数
  • 眼图和掩膜测试的示例程序,以及使用双狄拉克(dual-Dirac)和基于频谱的分离方法,进行随机抖动和确定性抖动(RJ/ DJ)分离的示例程序


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