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Multitest的Dura Kelvin显著降低总测试成本

—— Multitest的Dura®Kelvin显著降低总测试成本
作者:时间:2011-07-06来源:电子产品世界收藏

  面向世界各地的集成设备制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造测试分选机、和负载板的领先厂商公司,日前欣然宣布其Dura®Kelvin再次证明在超长的使用寿命和清洗周期方面名不虚传。在一家国际性IDM大批量生产厂,Dura®Kelvin显著降低了总体测试成本。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/121118.htm

  在项目期限内,首检合格率和清洗频率都受到了监控。Dura®Kelvin明显超过了所有目标,使用寿命已超过4百万次插拨,这是设定目标的四倍以上。首检合格率从95%提高到98.5%。真正令人赞叹的是与清洗频率相关的成就。

  Dura®Kelvin 仅需要在大约100个小时之后清洗。与原来的测试单元配置相比,这使与清洗相关的测试单元停机时间降低了90%。尤其对于低温测试而言,这具有重要影响。



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