优化测试单元产能：Multitest的MT2168充分利用先进测试仪性能

　　面向集成设备制造商（IDM）和最终测试分包商，设计和制造测试分选机、测试座、测试负载板的领先厂商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的设计旨在实现最佳测试仪利用率。短Index时间（DUT交换时间）、快速上料与分类以及超大器件预热能力均支持分选机与新一代测试仪保持同步。

　　理想情况下，如果分选机没有局限性，增强的测试仪性能从两方面优化了测试单元产能：它们得益于更短测试时间和更高测试并行性的应用。

　　目前很多先进的分选机不能支持增强的测试仪性能，即使它们拥有多个相应的测试位亦是如此。因此，潜在的产能优势受到最高分选机产能的限制。最高分选机产能取决于上料、预热和分类速度。

　　增加测试位的数量（并行性）将直接与能够同时测试更多器件的增强的测试仪能力相呼应。只有在未达到分选机的上料和分类能力上限的情况下，才能增加并行性。否则，这将被更长的上料和分类时间抵消。在任何情况下，分选速度均需改善，以便受益于更短测试时间。对于所需的预热能力来说亦是如此，目的是为了充分利用更高并行性和更短测试时间的优势。

　　MT2168的设计旨在充分利用测试仪的性能。该新一代测试分选机不仅针对单个参数（并行性和速度）进行优化，其内部的测试位数量、上料、预热及分类能力等方面也得到同步改善。