泰克将在IDF2010上展示最新测试解决方案

　　泰克公司日前宣布，将在4月13日到14日北京国家会议中心举办的2010英特尔信息技术峰会(IDF2010)上展示最新的计算技术和应用如USB3.0、PCI Express 3.0的解决方案。通过业界领先的示波器、信号发生器、逻辑分析仪、探头和相关软件，泰克的综合解决方案将帮助工程师简化测试复杂性和所需的时间，使其能在规定时间内成功将新产品推向市场。

　　作为英特尔的长期供应商和合作伙伴，泰克多年来一直是IDF参展商。为契合IDF2010的主题，泰克将加入USB应用厂商论坛小组，集中展示其为USB 3.0验证、调试和自动化一致性测试提供的完整工具组合。

　　SuperSpeed USB (USB 3.0)一致性测试解决方案

　　泰克提供完善的一系列USB3.0工具，把硬件工具与增强的应用软件结合在一起，可以全面支持所有发射机、接收机和电缆物理层测试。例如，DPO/DSA70000B系列示波器与新的USB-TX选项相结合，为验证USB 3.0发射机测试提供了自动的一键式解决方案，可执行包括扩频时钟(SSC)、转换、电压电平等在内的多种测试。

　　AWG7000B任意波形发生器与SerialXpress高级抖动生成工具相结合，是世界上唯一的全内置接收机测试解决方案;带有IConnect软件的DSA8200采样示波器则为分析和检定复杂的串行数据网络提供了最完整、最经济的解决方案。

　　PCI Express 3.0端到端测试解决方案

　　泰克为下一代PCI Express 3.0规范提供了完整的测试解决方案，能够在单一的工具中执行从协议层到物理层分析。泰克最新发布的TLA7SA16和TLA7SA08逻辑分析仪模块，是对现有工具组包括DSA72004B实时示波器配合P7500系列TriMode探头、AWG7000B任意波形发生器和DSA8200采样示波器的重大补充。这种全面解决方案提供了灵活的高性能探测功能，可以准确捕获PCIe 3.0 8 GT/s 总线业务。它可以显示和分析PCIe协议，支持TLP和DLLP数据包解码及高达16 GB的轨迹缓冲器，支持调试快速L0s/L1 Latency L0的PCIe 3.0 ASPM (有效状态电源管理)，可以自动跟踪链路速度协商，执行链路训练和初始化调试。