在金属加工、铸造及半导体制造等高温工业场景中，针对高反光及光亮表面的非接触式温度测量一直是一项技术挑战。传统长波红外热像仪在测量此类物体时，常因材料发射率低且不稳定而导致数据偏差。Optris PI 1M作为一款工作在0.85 μm至1.1 μm短波光谱范围的红外热像仪，通过特定的光谱响应特性，为高温金属表面的精确热成像提供了有效的技术解决方案。

短波测温原理与优势

根据普朗克辐射定律，物体在短波范围内的辐射强度随温度升高呈指数级增长。对于钢、铁、铜、黄铜等金属材料而言，其在短波红外波段的发射率显著高于长波波段。PI 1M利用这一物理特性，有效降低了因发射率变化引起的测量误差，确保了在450°C至1800°C宽温域内的测量准确性与重复性，且无需进行子范围切换。

探测器性能与成像速度

该设备搭载高动态CMOS探测器，全分辨率下可达764×480像素。为适应不同的工业节拍，PI 1M支持多种帧率模式：在标准分辨率下以32 Hz运行以获取细节丰富的热图像；在382×288像素下提升至80 Hz；针对极快的温度变化过程，更可在72×56像素下实现1 kHz的超高速帧率。此外，其1 kHz线扫描功能特别适用于连续生产线的温度分布观测。

系统集成与环境适应性

在工业集成方面，PI 1M具备低至1 ms的响应时间，可通过USB、模拟及数字接口无缝集成至PLC控制系统。配合PIX Connect软件，用户可实现复杂的数据分析与图像处理。针对铸造、锻造等恶劣环境，设备支持水冷外壳（耐环境温度达315°C）及空气吹扫装置，有效防止粉尘污染与热损伤，确保设备长期稳定运行。

德国Optris红外热像仪生产厂家：https://www.shphgd.com/

PI1M红外热像仪：https://www.shphgd.com/products_details_id_15.html

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