专栏中心

EEPW首页 > 专栏 > 3404-70电控TTL可编程衰减器

3404-70电控TTL可编程衰减器

发布人:立维 时间:2026-03-31 来源:工程师 发布文章

3404-70电控TTL可编程衰减器

3404-70Aeroflex-Weinschel公司生产的3400系列可编程步进衰减器,专为自动测试设备(ATE)OEM系统设计,采用微带电路与特殊补偿技术实现平坦频响,标配 TTL 控制接口与 SMA 连接器,适配射频测试、通信系统校准、信号功率控制等场景。

规格参数

频率范围DC - 6.0 GHz

衰减范围0 - 70 dB

步进精度10 dB

衰减单元配置4个单元:10, 20, 20, 20 dB

最大插入损耗2.60 dB (DC-3 GHz) / 3.80 dB (3-6 GHz)

最大驻波比(VSWR)1.30-1.45 (DC-3 GHz) / 1.45-1.55 (3-6 GHz)

标称阻抗50 Ω

功率额定值1瓦平均功率(@25°C),峰值50

开关寿命每单元500万次操作

开关时间最大6毫秒

工作电压+12 Vdc (+9V+13V)

工作电流每单元典型17 mA @ +12V

技术优势

高集成度与模块化设计

3400 系列衰减器采用紧凑型设计,节省 ATE 系统空间,同时支持热插拔,便于维护与升级。

提供多种接口选项(如 SMA型连接器),适配不同测试环境。

长期稳定性与低维护成本

机械式衰减器无电子元件老化问题,寿命长达数十年,降低长期使用成本。

符合 MIL-STD-810 等军用标准,适应恶劣环境(如高温、振动)。

应用场景

射频测试与验证

信号模拟:模拟信号在传输过程中的损耗(如路径损耗、天线衰减),验证接收机灵敏度或发射机功率控制性能。

器件测试:测试天线、滤波器、放大器等射频器件的频率响应,评估其性能指标(如带宽、增益、噪声系数)。

自动测试设备(ATE)集成

多通道测试:结合衰减器矩阵,构建多通道信号模拟系统,满足复杂电子战、雷达仿真等场景需求。

功率控制:在 ATE 系统中精确控制输入到被测设备(DUT)的信号功率,确保测试条件的一致性。

通信系统校准

基站测试:模拟不同距离下的信号衰减,评估基站覆盖范围与性能。

终端测试:测试手机、平板电脑等终端设备的接收灵敏度,优化通信质量。


专栏文章内容及配图由作者撰写发布,仅供工程师学习之用,如有侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 联系我们

关键词: 3404-70 电控TTL可编程衰减器

相关推荐

透视麒麟9010:博采众长但依旧任重道远

华为HarmonyOS NEXT即将公测:Mate 70零部件开始同步供货

ASTM AFS 50/70 标准试验砂

MPLAB IDE 集成开发环境 V5.70.40

Mate 70系列本月发布,出厂即搭载纯血鸿蒙

2024-11-05

nokia7370图纸

资源下载 2013-09-13

CCD sensor 结构

满意但不完美!华为首款Ultra旗舰Pura 70 Ultra全面评测

「绝对对得起那四个字」 —— Mate 70系列发布第二代灵犀通信

2024-11-28

华为Mate X6、Pura 80系列、Mate 70系列官宣降价,最高2000元!

2025-09-18

Mate70麒麟芯片首拆

CCD sensor 结构

拆解华为Mate 70 存储芯片来自SK海力士

消息称华为 Mate 70 系列手机 11 月上市,部分零部件投产数较 Mate 60 同期增加 50%

华为Pura 70系列锐意向前,超强配置拥有极致体验

更多 培训课堂
更多 焦点
更多 视频

技术专区