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X-RAY在失效分析中的应用

发布人:新阳检测 时间:2023-12-04 来源:工程师 发布文章

一、定义


X-RAY是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-RAY形式放出。


对于无法以外观方式检测的位置,X-RAY可形成影像,即显示出待测物的内部结构,在不破坏待测物的情况下观察内部有问题的区域。


二、应用范围


 IC、BGA、PCB/PCBA、表面贴装工艺焊接性检测等;


 金属材料及零部件、电子元器件、电子组件、LED元件等内部裂纹、异物的缺陷检测,BGA、线路板等内部位移的分析;


 判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷,微电子系统和胶封元件,电缆,装具,塑料件内部情况分析。


三、检测标准


IPC-A-610 ,GJB 548B


四、检测方法


1、关键参数

电压、电流、放大倍率、衬度。

2、检测方式

垂直透\视

倾斜(40°-45°)透\视

3、应用环境

 垂直透\视:连锡、锡多、锡少、移位、空洞、焊锡面积、裂纹损伤及器件内部观察等;


 倾斜透\视:BGA虚焊(枕焊)、通孔上锡、引脚侧向润湿检测、引脚翘检测等。


五、典型应用案例


BGA虚焊缺陷

NO.1:倾斜透\视(45°)

焊点小,有小拖影

对应断面金相图示

判定结果:枕焊NG


NO.2:倾斜透\视(45°)

双重锡、空洞

对应断面金相图示

判定结果:未润湿,枕焊NG


NO.3:倾斜透\视(45°)

重影

对应断面金相图示

判定结果:枕焊NG


NO.4:倾斜透\视(45°)

重影

对应断面金相图示

对应断面金相图示

判定结果:枕焊NG


NO.5:倾斜透\视(45°)


对应断面金相图示

判定结果:枕焊NG


NO.6:倾斜透\视(45°)


对应断面金相图示

判定结果:枕焊NG


NO.7:垂直透\视(0°)

空洞

对应断面金相图示

判定结果:空洞>30% NG


NO.8:倾斜透\视(45°)

拖影严重

对应断面金相图示

判定结果:可接受


QFP接地虚焊缺陷

NO.9:垂直透\视(0°)

锡未扩散,无气泡



对应断面金相图示

判定结果:接地虚焊NG


电路断线

NO.10:倾斜透\视(45°)

重影

对应断面金相图示

判定结果:电路断线NG


PCB铜环裂纹

NO.11:垂直透\视(0°)

铜环裂纹


判定结果:电解电容铜环裂纹NG


常规检测

NO.12:垂直透\视(0°)

连锡

判定结果:连锡NG


NO.13:垂直透\视(0°)


判定结果:符合标准及产品散热性能要求OK


六、总结


综上所述,在整个失效分析过程中,X-RAY的分析结果为接下来的分析与推断提供失效判断依据,进而帮助失效分析工作找到针对性的改进或预防措施,最终在失效分析工作过程中形成闭环。


腾昕检测有话说:


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关键词: x-ray 失效分析 X射线分析 X射线光电子能谱 PCB/PCBA 电子元器件 电子元器件失效分析 PCB/PCBA失效分析 X-RAY工作原理

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