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日置HIOKI 3532-50高精度LCR测试仪

发布人:t18207555370 时间:2023-05-17 来源:工程师 发布文章

详细介绍:

搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪

测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位**度自由调整

可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来

基本参数

测量参数 │Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q

测量方法 测量源:恒流10μ~100mA(42Hz~1MHz),50μ~20mA (1MHz~5MHz),或恒压10mV~5V(42Hz~1MHz),50mV~1V(1MHz~5MHz) 

检测:电压,AC

测量频率 42Hz~5MHz

测量量程 │Z│,R,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定) 

θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mF

L:16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999

Q:0.01~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S

基本精度 │Z│: ± 0.08% rdg.,θ: ± 0.05°

测量时间│Z│的典型值 快速:5ms~ 慢速2:140ms

显示 *大显示值99999,LCD背光功能

比较器功能 设定:上、下限值,百分比或**值 输出:3档(高,中,低),开路集电极,绝缘

外部打印 9442 (与9443/9446/9593-01同时使用)

电源供应 100~240V AC 50/60Hz

体积及重量 352宽 x124高 x 323厚mm,6.5kg

附件 电源线(1),保险丝(1),使用说明书(1)


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关键词: 3532-50 HIOKI LCR测试仪

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