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为PCIe 5.0等下一代高速数字接口测试加油

发布人:益莱储 时间:2022-07-11 来源:工程师 发布文章

科技创新为人们的工作生活带来巨变,无论是企业级产品还是消费类电子产品,都要求更快的信息处理速度更低的功耗,这就将设计裕量压缩到了极致。当今的实验室需要一流的测量和信号发生设备,以满足当前和未来测试需求。

是德科技的技术专家全面跟进JEDEC、USB、PCI-SIG、IEEE、OIF和MIPI等协会技术标准演进,凭借专业的知识提供全面符合标准的高速数字系统测试方案,其中以UXR高性能示波器为平台的Tx测试和以误码率分析仪为平台的Rx测试是测试方案中的重要组成。开发下一代技术要求测试设备必须具有卓越的信号完整性。更宽带宽、更高 ENOB 和更低本底噪声,赋予您对自身设计更深刻的洞察力。是德科技的突破性技术能够帮助您应对更困难的测量和设计挑战。以PCIe为例,它从4.0发展到5.0,数据速率翻倍到32GT/s,提升测试平台的测试能力已经箭在弦上。

是德科技UXR0594A+M8040A 实现了PCIe 5.0高速接口测试平台升级,这也是益莱储客户最近的热门需求。信号进入示波器后,经过模拟前端包括衰减器、放大器、采样器,再进入到 ADC,示波器中所使用的半导体工艺、封装设计、互连设计,ADC 的垂直有效位数等的差异,会导致信噪比会存在差距。所以,降低仪器底噪、提升 ADC 的位数会为提升测量精度带来非常大的帮助,在足够采样率的条件下,这些性能超过了采用更高采样率对测量结果的影响。


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关键词: 益莱储

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