在多通道SMU/I-V测试以及温度应用中存在着最大的销售机会，如图1所示。

图1  3700系列主机的目标应用

多通道I-V应用

主要使用案例：

在要求多通道(>2通道)或重新配置通道的2600系列源测量单元的任何应用中，都以使用3700系列产品。

应用实例：

一个应用实例是使用两端器件，如热敏电阻、二极管、电阻器等。典型测试系统配置包括一个或多个26xx源测量单元及开关（如图2所示）。通过TSP-Link将开关系统与26xx源测量单元连接在一起。这种类型的应用测试通常要求接触检查(在26xx源测量单元内部)、高速(TSP与TSP-Link硬件触发)、器件夹具接口(数字I/O)以及通过/失效决策(TSP脚本)。

3706型产品的特性与益处是：

• TSP(脚本语言与源测量单元SMU相同)

• TSP-Link(允许直接连接至SMU，用于控制)

• 低成本(替代多个源测量单元的最低成本开关)

• 开关卡专为SMU I-V特性测试指标而进行优化：

- 通用：200V DC，承载电流3A

- 高速/长寿命干簧继电器：200V DC，承载电流1.25A

图2  多通道I-V系统实例

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