Andrew Armutat 产品市场部 吉时利仪器公司

 2601型单通道系统源表[1]           
2602型双通道系统源表[2]

作为SMU的程序存储器和测试序列发生器如何加速测试进程的例子，吉时利仪器公司研究了对一个单通道SMU进行编程，内部执行一个典型源－测量序列的情形。然后将该测试序列与通过PC的GPIB总线控制的同样功能的测试进行比较。

测试序列由对二极管[3]的三个简单测试组成：Vf，Vbr和Ir。首先，用Visual Basic写好PC 测试程序，通过GPIB总线控制SMU，执行这三项测试，并在VB程序中作出测试/失效判断；并将所有的SMU读数都通过GPIB总线返回到PC中。这种提供PC控制的系统完成二极管测 试并作出通过/失效判断的时间约为250ms。

接下来，采用SMU内置测试序列的功能进行测试。PC程序[4]将预先配置仪器一次，然后进行源－测量测试过程，作出通过/失效判断，控制元器件分选处理器，所有这些操作都将有SMU在其内部进行，独立于PC和GPIB总线[5]。这种方法可在约25ms的时间内完成测试，也就是说，它比前面的方法要快10倍。元器件分选处理器处理一个器件大约180ms，因此，使用SMU测试序列发生器可获得52%的产量增长率。在元器件的生产应用中，这将有效地降低一半的测试成本。

在上面描述的单通道系统中，使用测试序列发生器是一种直接有效的解决方法。如果对两个或更多通道的系统，配置测试序列发生器和管理多个触发器将变得极其复杂。但是，带有测试脚本处理器和高速控制总线的新型SMU可解决此问题，具有方便快捷地调整系统容量、具有可伸缩性和简单的编程特性。这些特性具有共享所有SMU的资源运行复杂、高速测试序列的能力。

（见本文其它部分有关吉时利2601型和2602型系统源表的说明）

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