多个HBLED器件的测试

老炼（burn-in）等应用需要对多个器件同时进行测量。

结的自加热[1]是HBLED生产测试中最主要的误差源之一。随着结温不断升高，电压降，或者更重要的是，漏电流，也随之上升，因此如何最大限度缩短测试时间就极为重要。智能测试仪器可以简化对器件的配置，并缩短其上升时间（该时间是指测试开始前任何电路电容实现稳定的时间）以及积分时间（该量决定了A－D转换器[2]采集输入信号的时间长短）。新型的SMU仪器[3]，例如吉时利2651A，具有A－D转换器，这些器件的采样速度高达ms/点，比高性能的积分式A－D转换器快50倍。于是，更快的测量速度可以进一步缩短总的测试时间。

脉冲测量技术的使用可以最大限度缩短测试时间和结的自加热现象。当前具备高脉冲宽度分辨率的SMU可以精确地控制对器件施加功率的时间长短。脉冲化的工作也可以让这些仪器的输出电流远超出其DC输出能力。

欲了解HBLED测试程序描述文本代码的示例，可以下载2639[4]号吉时利应用指南，高亮度LED的高速测试。

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