理想具周期性排列的晶体实际上是不存在的,真实的晶体中都有缺陷〈defects〉存在。只要能使晶体偏离理想的状态,则都可称为缺陷。这些缺陷除了会影响到材料本身的特性外,也会影响其电特性。通常晶体中的缺陷可分为点缺陷、线缺陷、面缺陷及体缺陷四种,概述于下。 点缺陷: 空穴〈vacancy〉:正常晶格位置没有晶体原子存在时所形成。空穴的存在有助于杂质或本质原子的热扩散,适当的加以退火可减少空穴的情形。 间隙缺陷〈interstitials〉:在非正常晶格位置处有晶体原子存在的情形。 杂质〈impurity〉:非原本晶体原子的外来原子占据正常或非正常晶格位置的情形。 萧特基缺陷〈Schottky defects〉:晶体原子跑到晶体表面,并在原位置留下空缺。 富兰克缺陷〈Frankel defects〉:晶体原以跑到非正常晶格位置,形成间隙型缺陷,并在原位置留下空缺。 线缺陷: 边缘差排〈edge dislocations〉:为最常见之线缺陷。边缘差排的成因为晶格受过度挤压或拉伸所引起〈或由局部热胀冷缩所致〉。差排线和差排方向垂直。 螺旋差排〈screw dislocations〉:为受到剪应力的结果。差排线和差排方向平行。 堆栈错误〈stacking faults〉:相邻晶体层的排列不同会导致堆栈错误。 面缺陷: 自由表面〈free surface〉:晶体表面因和空气接触,造成表面原子键结不完整。 晶粒边界〈grain boundary〉:不同晶体方向的小晶体〈或称晶粒〉接触的面。晶粒边界上的缺陷包含点缺陷及线缺陷,因此晶粒边界的存在将助于杂质的扩散。 体缺陷: 大量且集中的外来杂质引入。 机械性的伤害亦会造成体缺陷。 另外,因为原子的热振动会使原子偏离原来的正常位置,导致晶体的晶格常数变动,偏离理想晶体结构,所以晶格振动也算是缺陷的一种。
专栏文章内容及配图由作者撰写发布,仅供工程师学习之用,如有侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 联系我们
相关推荐
用VHDL实现倍频器
SR-IOV SSD和适用于汽车应用程序的虚拟机管理程序有什么区别?
Microchip推出多功能MPLAB PICkit™ Basic调试器
CW34063构成的降压型的典型应用电路
SoC为边缘设备带来实时AI
升压型扩大输出电流的应用电路(CW34603)
TPA6130A 社区视频
ARM专业开发站点
CW34063构成的降压型扩大输出电流的应用电路
提升高瞬态汽车应用的速度和效率
Quartus II_Version chinese_new
3月11日,米尔邀您相约2025德国纽伦堡嵌入式展 EMBEDDED WORLD
借助即用型平台,高效设计符合标准的电能质量测量仪表
超声波扫描转换演示 OMAP3530 EVM
用W611构成开关稳压电源的应用电路2
用VHDL时如何建立自己的库
液流电池测试系统使用小规模原型设计来加速储能研究
ARM专业开发站点
ZigBee CC2480 社区视频
PCB布线面临的关键时刻
基于Intel PXA27X的PMP成熟方案
通过自举扩展运算放大器工作范围
用W611构成开关稳压电源的应用电路1
全面、快速的运算放大器SPICE模型
modelsim使用手册
TPS40192 & TPS40193 社区视频
EIS:电动汽车电池管理系统的下一阶段?
FPGA设计全流程
德州仪器 TMS320C6474 DSP 评估板
PCB设计经验谈