- 软误差率(SER)问题是于上个世纪70年代后期作为一项存储器数据课题而受到人们的广泛关注的，当时DRAM开始呈现出随机故障的征兆。随着工艺几何尺寸的不断缩小，引起失调所需的临界电荷的减少速度要比存储单元中的电荷聚
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SER 存储器数据 软误差
- 软误差是半导体器件中无法有意再生的“干扰”（即数据丢失）。它是由那些不受设计师控制的外部因素所引起的，包括alpha;粒子、宇宙射线和热中子。许多系统能够容忍一定程度的软误差。例如，如果为音频、视
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存储 器件 方案 软误差
软误差介绍
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