- 软误差率(SER)问题是于上个世纪70年代后期作为一项存储器数据课题而受到人们的广泛关注的，当时DRAM开始呈现出随机故障的征兆。随着工艺几何尺寸的不断缩小，引起失调所需的临界电荷的减少速度要比存储单元中的电荷聚
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SER 存储器数据 软误差
- 介绍用VHDL语言设计该存储器数据串并转换接口的IP核，从而通过硬件（FPGA或其他可编程芯片）实现AT24系列存储器与8位微处理器之间的并行通信。
- 关键字：
AT 24 存储器数据 串并转换
存储器数据介绍
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