- DELO 为扇出型晶圆级封装 (FOWLP) 开发了一项新工艺。可行性研究表明,使用紫外线固化模塑材料代替热固化材料,可显著减少翘曲和芯片偏移。此外,这还能缩短固化时间,最大限度地降低能耗。扇出型晶圆级封装将众多芯片封装在一个载体上,是半导体行业一种成本效益较高的方法。但这种工艺的典型副作用是翘曲和芯片偏移。尽管晶圆级和面板级的扇出型技术不断精进,但这些与模塑成型相关的问题依然存在。翘曲是由于液态压缩模塑化合物 (LCM) 在模塑后的固化和冷却期间发生化学收缩而造成的。造成翘曲的第二个原因是硅芯片、成型材
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DELO 扇出型 晶圆级封装 紫外线工艺
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