这个 50 MHz 脉冲发生器的构造像岩石一样坚固。它几乎全是金属。我们将该单元完全拆开，从系统和电路板级别进行观察。在 2024 年参观麻省理工学院 swapfest 时，我遇到了一台 HP 8112A 50 MHz 脉冲发生器。花了 20 美元，我把它带回家拆开。该仪器于 1987 年左右在柏林墙倒塌前在德意志联邦共和国组装，是坚固测试设备的经典例子。这是里面的内容。图 1.我在 swapfest 上购买的 HP 8112A 脉冲发生器被出售用于维修或零件。拆解 8112A 既是挑
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HP 8112A 脉冲发生器
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发布于2025年3月10日）为使更多工程师能够享受更强大的编程与调试功能，Microchip Technology Inc.（微芯科技公司）今日发布MPLAB® PICkit™ Basic在线调试器，为各层级的工程师提供高性价比解决方案。相较于其他复杂昂贵的调试器，这款经济型工具提供高速USB 2.0连接、CMSIS-DAP支持、兼容多种集成开发环境（IDE）和单片机。该调试器的多功能性使开发人员能在各类项目与平台（包括VS Code®生态系统）中使用，简化工作流程并减少多工具需求。 主要特性：
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Microchip MPLAB® PICkit™ Basic 调试器
为使更多工程师能够享受更强大的编程与调试功能，Microchip Technology Inc.（微芯科技公司）近日发布MPLAB® PICkit™ Basic在线调试器，为各层级的工程师提供高性价比解决方案。相较于其他复杂昂贵的调试器，这款经济型工具提供高速USB 2.0连接、CMSIS-DAP支持、兼容多种集成开发环境（IDE）和单片机。该调试器的多功能性使开发人员能在各类项目与平台（包括VS Code®生态系统）中使用，简化工作流程并减少多工具需求。主要特性：● USB Ty
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Microchip MPLAB PICkit Basic 调试器
STEVAL-WBC2TX50 评估板基于 STWBC2 积体电路 (IC)，专为无线电源发射器应用而设计，可让使用者快速启动 5 W Qi BPP、15 W Qi EPP 或 50 W STSC 无线充电专案。STWBC2 无线发射器 IC 可提供以下感应无线电源技术的电力传输等级：高达 5 W 的充电功率，相容于 Qi 1.3 基线电源设定档 (BPP)高达 15 W 的充电功率，相容于 Qi 1.3 扩充电源设定档 (EPP)使用 STSC 设定档提供高达 50 W 的充电功率BPP 和 EPP 由
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ST STWBC2-HP Qi兼容 无线充电
在这篇文章中，我们通过走过SOLT校准的步骤并检查其参考标准的潜在非理想性来结束我们对VNA的讨论。被称为矢量网络分析仪（VNA）的强大仪器在射频和微波应用中是必不可少的。然而，在使用VNA之前，必须通过执行用户校准来校正测试设置的系统误差和缺陷。上一篇文章介绍了短开路加载直通（SOLT）方法，这是最常见的用户校准技术之一。在本文中，我们将更详细地解释SOLT校准方法是如何工作的。我们还将讨论在现实世界SOLT校准中使用的开路和短标准的非理想性。深入了解这些概念将有助于VNA用户更自信地分析测量结果。找到
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VNA 矢量网络分析仪 SOLT
12项误差模型是矢量网络分析仪（VNA）测量系统误差建模的一种简单、有效的方法。在本文中了解此模型和相关的错误更正技术。用户校准在最小化矢量网络分析仪（VNA）测量的系统误差方面起着基础性的作用，使整个测量性能远远超过原始硬件的能力。本文将介绍商用vna纠错算法中最常用的12项误差模型。文章的最后部分将介绍SOLT校准技术，这是一种基于12项误差模型的同样广泛的误差校正方法。利用信号流图建立误差模型通过检查VNA的通用框图，我们可以建立测量系统的误差模型。考虑图1中的测量框图，其用于测量DUT的输入反射（
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矢量网络分析仪 VNA 12项误差
在本文中，我们比较了矢量分析仪（VNA）的工厂校准和用户校准的范围。然后我们了解校准技术不能纠正的错误类型。本系列的上一篇文章介绍了矢量网络分析仪（VNA）用户校准的基本概念。在某些方面，用户校准过程类似于称重系统的收费或归零，以消除容器中的误差。当你想要称量一个物体时，你首先把它的空容器放在天平上，然后按下皮重或零按钮。这会将比例设定为零，并指示忽略容器的重量。同样，在用户校准过程中，我们首先测量一些已知标准。例如，我们可以使用上一篇文章中的短期、开放和（匹配的）负载校准标准。这些测量值允许我们确定互联
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VNA 矢量分析仪 校准
了解矢量网络分析仪（VNA）校准技术如何纠正测量误差的基础知识。矢量网络分析仪（VNA）是射频和微波应用中最精确的测量仪器。例如，现代VNA可能比任何其他功率传感器具有更好的精度来测量RF功率。这种准确性的很大一部分来自适用于VNA的独特校准技术。这些技术允许修正幅度和相位测量中的系统误差。VNA校准技术是一个广泛研究的课题，有数百篇论文对其数学方面进行了探讨。然而，它常常以相对复杂和模糊的方式呈现。作为用户，我们需要更基本地了解各种校准技术，包括优势和劣势，以便我们能够针对任何特定情况选择最佳校准方法。
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矢量分析仪 VNA
基础半导体器件领域的高产能生产专家Nexperia近日宣布，现可提供采用CFP3-HP封装的22种新型平面肖特基二极管产品组合。该产品组合包括11种工业产品以及11种符合AEC-Q101标准的产品。本次产品发布是为了支持制造商以更小尺寸的CFP封装器件取代SMx型封装器件的发展趋势，特别是在汽车应用中。这些二极管适用于DC-DC转换、续流、反极性保护和OR-ing(打嗝)应用等。为尽可能实现设计灵活性，该产品组合中的器件选项提供30 V至100 V的反向电压VR(max)和1 A至3 A的正向电流IF(a
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Nexperia CFP3-HP 平面肖特基二极管
本文解释了如何估计矢量网络分析仪（VNA）对给定测量所需的动态范围，然后讨论了将动态范围提高到所需水平的四种技术。正如我们在前一篇文章中所了解到的，矢量网络分析仪（VNA）的动态范围在测量例如高选择性滤波器的频率响应时起着关键作用。在本文中，我们将了解如何估计测量所需的VNA动态范围。我们还将讨论四种提高VNA动态范围的方法，即：信号平均。调整中频（IF）带宽。分段扫描。使用可重新配置的测试端口。在我们深入讨论主题之前，我们将简要回顾VNA的动态范围如何影响其准确测量滤波器响应的能力。然后，我们将检查干扰
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矢量分析仪 VNA
在本文中，我们将探讨VNA的信号源和接收器是如何实现其功能的。矢量网络分析仪（VNA）可能是射频工程领域中最复杂、最通用的测试设备。通过测量正向和反向行波，VNA能够表征被测器件（DUT）的响应。图1显示了一个典型VNA的基本框图。VNA的基本框图 图1.VNA基本框图。图片由David M.Pozar提供VNA使用内部源来生成已知的刺激信号，然后将其施加到DUT的输入端口。部分信号从输入端口反射，而部分信号通过DUT到达输出端口。VNA通过测量每个端口的入射波和反射波的幅度和相位，以反射系数和
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矢量分析仪 VNA
声学滤波器作为射频前端解决方案关键器件之一，在通信系统的演进中也需要技术的迭代及突破。随着第五代(5G)移动通信技术的广泛推进，现实网络环境频谱复杂度提升。在3GPP发布PC1.5定义后，各手持设备设计需求也在提升输出功率。三安集成基于自研键合多层压电衬底技术，在新材料及新建模的基础上，推出HP-SAW滤波器系列产品。我们为什么需要滤波器？滤波器作为选频过滤功能实现的重要器件，可以保障通讯链路在"特定工作频率"上进行稳定的信号处理工作。在现代民用无线通讯系统中，各国家及地区所部署的无线
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三安 HP-SAW
即使再好的测试设备也会存在瑕疵，从而导致测量结果不太理想。这些导致测量误差的缺陷中，有一些是随着时间和温度的变化而可重复和可预测的，并且可以消除，而另一些则是随机的，无法消除。误差修正对测量结果的影响非常显著。下图中，如果没有误差修正，带通滤波器的测量结果显示出相当大的损耗和纹波。经双端口校准后的迹线消除了系统误差的影响而更加平滑，并且更准确的表示了被测件 (DUT) 的实际性能。所有测量系统，包括那些使用网络分析仪的系统，都可能受到三种测量误差的困扰：• 系统性误差• 随机误差• 漂移误差系统误差是由测
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VNA
NVIDIA（辉达）今（20）日宣布，与惠普科技（HP）携手台北科技大学互动设计系，共同打造「NVIDIA Studio x HP 协作空间」，强调未来将在此透过高阶设备，提升互动设计系学生的创作流程与质量，并由台北科技大学主任秘书吴建文、台北科技大学互动设计系主任曹筱玥、杰出校友「两打半」互动有限公司执行长宋兆祥、HP Taiwan 董事长王静秀，以及 NVIDIA 中国台湾区业务协理邾亦为共同揭幕。 在此第三座NVIDIA Studio协作空间中，将引进NVIDIA Studio平台技术，与
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NVIDIA HP 台北科大 互动设计协作
LinkSwitch-HP 装置在单芯片上将控制器和高电压功率 MOSFET整合到单一封装。它具有最新开发的模拟控制设计，可实现具有连续导通模式 (CCM) 与一次侧调节 (PSR) 功能的电源供应器，其功率高达 90 W，且没有 DCM 的效率限制，也不会产生噪音。它采用增强型峰值电流模式 PWM 控制方案，以多重模式操作。多重模式控制引擎在补偿接脚上使用误差放大器输出讯号电压来设定工作峰值电流和切换频率，进而将输出电压维持在稳压状态，如下图 所示。。对于低于 VC(MCM) (典型值为 1.
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PI LinkSwitch-HP LNK6774V 小家电电源供应器
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