- 高速ADC的性能特性对整个信号处理链路的设计影响巨大。系统设计师在考虑ADC对基带影响的同时，还必须考虑对射频(RF)和数字电路系统的影响。由于ADC位于模拟和数字区域之间，评价和选择的责任常常落在系统设计师身上，而系统设计师并不都是ADC专家。
还有一些重要因素用户在最初选择高性能ADC时常常忽视。他们可能要等到最初设计样机将要完成时才能知道所有系统级结果，而此时已不太可能再选择另外的ADC。
影响很多无线通信系统的重要因素之一就是低输入信号电平时的失真度。大多数无线传输到达ADC的信号
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ADC
- 所有DAC之间的共性就是技术规格的定义以及说明。这篇文章将会论述静态DAC技术规格。静态DAC技术规格包括对DAC在DC域中所具有的特性的描述。在DC域中时，DAC的数字与模拟定时现象不属于这一组技术规格。
图1 虽然这3个DAC拓扑互不相同，但它们的技术规格与电气描述非常类似。 一个主要的静态DAC技术规格就是理想转换函数(图2)。在对这个普通转换函数的图示中，可以轻松地体会和理解零代码、偏移、满量程以及增益的定义。一旦你理解了上述概念，差分非线性&
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DAC 静态技术
- ADC模块是一个12位、具有流水线结构的模数转换器，用于控制回路中的数据采集。本文提出一种用于提高TMS320F2812ADC精度的方法，使得ADC精度得到有效提高。 1 ADC模块误差的定义及影响分析 1.1 误差定义 常用的A/D转换器主要存在：失调误差、增益误差和线性误差。这里主要讨论失调误差和增益误差。理想情况下，ADC模块转换方程为y=x×mi，式中x=输入计数值 =输入电压×4095/3;y=输出计数值。在实际中，A/D转换模块的各种误差是不可避免的，这
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数字处理器 ADC
- 高速模数转换器(ADC)存在一些固有限制，使其偶尔会在其正常功能以外产生罕见的转换错误。但是，很多实际采样系统不容许存在高ADC转换误差率。因此，量化高速模数转换误差率(CER)的频率和幅度非常重要。 高速或GSPS ADC(每秒千兆采样ADC)相对稀疏出现的转换错误不仅造成其难以检测，而且还使测量过程非常耗时。该持续时间通常超出毫秒范围，达到几小时、几天、几周甚至是几个月。为了帮助消减这一耗时测试负担，可以在一定“置信度”的确定性情况下估算误差率，而仍然保持结果的质量。 误码率(BER
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ADC CER
- 在使用数模转换器 (DAC) 进行设计时，您肯定希望输出能够从一个值向另一个值单调转换，但实际电路并不总是以这种方式工作的。 在某些特定代码范围内出现过冲与下冲(即干扰脉冲)也很平常。这些脉冲会以这两种形式中的一种出现，如图 1 所示。
图1：DAC干扰行为 图 1a 是一种可产生两个代码转换误差区的干扰，在R-2R 高精度 DAC中很常见。图 1b 是
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DAC R-2R
- 我们继续讲解与逐次逼近寄存器 (SAR) 数模转换器 (ADC) 输入类型有关的内容。在之前的部分中，我研究了输入注意事项和SAR ADC之间的性能比较。在这篇帖子中，我们将看一看造成SAR ADC内总谐波失真 (THD) 的源头，以及他在不同的输入类型间有什么不一样的地方 THD影响 让我们首先看看谐波失真是如何被引入的。本质上来说，转换器是一个非线性系统。如果系统完全线性，输入“x”将在输出上以线性的形式表现为“m
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SAR ADC
- 在选择一个SAR ADC时所考虑的某些关键技术规格包括分辨率、通道数量、采样率、电源范围、功耗、数字接口和时钟速度。但是诸如信噪比 (SNR) 和总谐波失真 (THD) 的噪声和AC参数是怎样的呢?这些参数会影响总体系统性能，并因此影响到SAR输入类型的选择。 噪声影响 单端输入：这些SAR只需要一条导线/电缆和一个单输入驱动器，如果有的话，连接至电源。需要注意的是，这些ADC测量相对于SAR自身接地的输入信号。虽然这是最简单的配置，信号接地和SA
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SAR ADC
- 当我们在专门研究模数转换器(ADC)、运算放大器(OpAmp)、数模转换器(DAC)以及其他电子架构的工程类院校修完其主干课程以后，您可能会认为您已理解了这些电路的所有基本功能。大多数人均对ADC的工作原理有了一个很好的了解，但是对DAC的工作原理却不太熟悉，它究竟有何功能呢?同样，对于大多数人来说，DAC只不过是一个输入端为数字信号数据而输出端为模拟信号数据的“黑匣子”。只有为数不多的人知道其在架构方面的区别，以及与R2R梯形架构相比一个电阻串架构(stringarchitecture)所具有的优点
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R2R DAC
- 简介 本应用笔记描述一个集ADP5070 DC-DC开关稳压器、ADP7142和ADP7182互补金属氧化物半导体(CMOS)低压差(LDO)线性稳压器、LC滤波器及电阻分压器于一体的电路，用以从5 V单电压源产生双电源。AD5761R是一款双极性数模转换器(DAC)，需要双电源以提供双极性输出电压范围。本应用笔记详细说明了如何配置该电路以使其适合只有一个5 V单电源可用的仪表应用。 作为双极性DAC的单极性5 V电源解决方案，ADP5070、ADP7142
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ADP5070 DAC
- 本文主要介绍了ADC和DAC常用的56个技术术语，如“采集时间”、“混叠”、“孔径延迟”等，帮助初学者更好的理解专业术语。 采集时间 采集时间是从释放保持状态(由采样-保持输入电路执行)到采样电容电压稳定至新输入值的1 LSB范围之内所需要的时间。采集时间(Tacq)的公式如下：
混叠 根据采样定理，超过奈奎斯特频率的输入信号频率为“混叠”频率。也就是说，这些频率被“折叠”或复制到奈奎斯特频率附近的其它频谱位置。为防止混叠，必须对所有有害信
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ADC DAC
- 数据转换器现已蜕变为高度集成的单芯片IC。从第一款商用数据转换器诞生以来，对更快数据速率的无止境需求驱动着数据转换器不断向前发展。目前ADC的最新产品是采样速率达到GHz的RF采样ADC。更高带宽的需求伴随着更高容量的需求，这就给FPGA I/O带来了更大的压力，而RF采样ADC可以利用内部DDC予以化解。
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ADC RF采样 GHz 201603
- 和一个产品的任何其他方面一样，产品说明书也可以得到不断的改进，厂商正努力地详细阐明产品说明书1。然而，市场上已经遗留了许多产品/产品说明书版本，对新版本或者更早的版本来说，不同标准的采用也取决于不同的因素。即使有一些特定的标准已经公开发表(如参考书目 2 所提到的)，标准的统一仍然是遥遥无期。 本文的目的就在于突出不同厂商或同一厂商在为不同的高速模数转换器 (ADC) 撰写产品说明书时所采用的标准之间的差异。表 1 是选择正确器件时可以使用
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TI ADC
- 最近几年，高速、高精度的模数转换器变得疾速。在 2006 年，一款业界一流的 12-位转换器才达到 250 兆采样/秒 (MSPS)。而今天，这一速度已经翻了一番，达到了 500 MSPS。14-位和 16-位精度的类似发展趋势也日益明显。这表明，在比特精度不变的条件下，ADC 速度正以几乎每年翻一番的速度发展。采样速率增长的结果是，收敛数字时序来确保您终端系统的数据完整性正变得越来越重要。 要收敛时
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ADC
- 在您开始设计以前，首先要看一下您想要数字化的信号类型。例如，如果您知道系统所有通道的最高、最低频率以及精度要求，那么您可能会需要数个 ADC。 另一种情况下，这些通道可能具有互不相同的时间关系，这就要求一种能够保护相位信息的同时采样方法。您可以利用采样保持电路和一个 ADC 来达到这一目的，而使用独立的 ADC 可能会更容易一些。 图 1 显示了一个 Δ-Σ 转换器多路复用电路，在该多路复用器的信号端上有一些
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转换器 ADC
- 本文给大家分享了ADC学习知识。
过采样频率:增加一位分辨率或每减小6dB 的噪声，需要以4 倍的采样频率fs 进行过采样.
假设一个系统使用12 位的ADC，每秒输出一个温度值(1Hz)，为了将测量分辨率增加到16 位，按下式计算过采样频率： fos=4^4*1(Hz)=256(Hz)。
1. AD转换器的分类下面简要介绍常用的几种类型的基本原理及特点：积分型、逐次逼近型、并行比较型/串并行型、Σ-Δ调制型、电容阵列逐次比较型及压频变换型。
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ADC 基准源
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