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ITECH IT-N6700系列高压可编程直流电源重磅上市

  • ITECH 艾德克斯近日正式推出全新 IT-N6700 系列高压可编程直流电源。该系列产品面向研发实验室、自动化测试设备(ATE)、半导体与电力电子等应用场景,围绕工程师在实际测试中最关注的安全性、可控性与可视化进行全面升级,为复杂供电测试提供更加可靠、高效的解决方案。IT-N6700 系列高压可编程直流电源提供 1000W / 1500W 两种功率规格,电压范围覆盖 32V 至 1500V,采用紧凑的 1/2 2U 机架式设计,在有限空间内实现更高功率密度,兼顾系统集成与实验室使用需求。多重保护机制,保
  • 关键字: ITECH  IT-N6700  直流电源  ATE  半导体  电力电子  

Caliber互联加速复杂的芯片组和ATE硬件设计,采用Cadence Allegro X和Sigrity X解决方案

  • Caliber Interconnects Pvt. Ltd. 宣布,已在复杂的芯片组和自动化测试设备(ATE)硬件项目中实现了加速周转时间和首次正确结果。公司完善了其专有的设计与验证流程,整合了强大的Cadence解决方案,从设计初期阶段起就优化性能、功耗和可靠性。Caliber先进的方法论显著提升了设计高复杂度集成电路封装和密集PCB布局的效率和精度。通过利用Cadence Allegro X设计平台进行PCB和高级封装设计,该平台具备亚原始管理和自动路由功能,Caliber团队能够在不同电路块间并行
  • 关键字: Cadence 工具  芯粒  ATE 硬件设计  EDA/PCB  

干簧继电器:从声带呼叫到GHz ATE,现在面临MEMS中断 第1部分

  • 干簧继电器已从其音频根源发展到处理 GHz 信号;MEMS 技术可能会将它们推到一边。机电继电器就像恐龙一样,没有得到它们应该灭绝的消息。相反,它们催生了新一代,被设计成新的应用,甚至占领了新的领域。数以百万计的此类继电器被用于新设计中,以解决从直流到射频、切换低电平信号和电源等通常难以解决的问题,同时解决相互冲突的目标。对于熟悉固态、无移动部件半导体世界的设计人员来说,机电继电器 (EMR) 似乎是一个早已过去的时代的遗留物。事实并非如此,因为在许多应用中,EMR 比固态继电器 (SSR) 具
  • 关键字: 干簧继电器  声带呼叫  GHz ATE  MEMS中断  202511  

干簧继电器:从声带呼叫到GHz ATE,现在面临MEMS中断 第3部分

  • 第 1 部分介绍了基础知识,第 2 部分探讨了干簧继电器及其在 ATE 应用中的应用,而最后一节则介绍了基于 MEMS 的继电器及其在 ATE 应用中的功能。颠覆:基于MEMS的GHz继电器磁驱动簧片继电器的优点和功能是显而易见的,那么为什么要改变呢?这是通常的故事:技术不断发展,并且经常使相关技术适应现有应用程序。这是继电器需要有形身体接触的情况。微机电系统 (MEMS) 技术自 1990 年代商业化以来不断发展,最初是用于触发安全气囊的开/关加速度计,然后是用于导航的加速度计和陀螺仪。MEM
  • 关键字: 干簧继电器  声带呼叫  GHz ATE  MEMS中断  202511  

干簧继电器:从声带呼叫到GHz ATE,现在面临MEMS中断 第2部分

  • 干簧继电器已从其音频根源发展到处理 GHz 信号;MEMS 技术可能会将它们推到一边。本节探讨干簧继电器及其在 ATE 应用中的应用。替代方案:簧片继电器在努力开发更好的中心局交换矩阵和交叉杆的同时,久负盛名的贝尔电话实验室的科学家和工程师在 1930 年代致力于全新的 EMR 设计。他们的目标是制造一种小巧、轻便且寿命极长的继电器,用于交换电话电路,他们做到了:干簧继电器(有时称为干簧开关)。也许在某种程度上是由于其概念的概念简单性(如果不是实际的制造工作),1941 年的专利短得惊人,只有一页三张基本
  • 关键字: 干簧继电器  声带呼叫  GHz ATE  MEMS中断  202511  

NI与领先的ATE供应商泰瑞达合作实现实时分析

  • NI(已正式成为艾默生一员,现作为艾默生旗下新的测试与测量业务集团运营)近日宣布了一项新计划,利用NI Global Operations(GO,前身为Optimal+)平台在边缘侧提供实时的半导体分析解决方案。这种更新水平的基础设施和控制能力为平台用户、NI自身、乃至第三方人员开发更先进和更定制化的应用程序打开了大门。此次发布的亮点是NI GO生态系统中的新支持层以及开始与领先ATE供应商泰瑞达(Teradyne)的合作。OptimalPlus GO对半导体测试操作的质量、良率、吞吐量和功能需求的不断提
  • 关键字: NI  Global Operations  ATE  泰瑞达  Teradyne  

如何为ATE应用创建具有拉电流和灌电流功能的双输出电压轨

  • 本文详细介绍一种创建双输出电压轨的方法,该方法能为设备电源(DPS)提供正负电压轨,并且只需要一个双向电源。传统的设备电源供电方法使用两个双向(拉电流和灌电流能力)电源,一个为正电压轨供电,一个为负电压轨供电。这种配置不但笨重,且成本高昂。简介DPS一般与自动测试设备(ATE)和其他测量设备搭配使用。ATE是一种电脑控制机械设备,自动驱动传统的手动电子测试设备来评估功能、质量、性能和应力测试。这些ATE需要配套的DPS提供四象限电源运行能力。DPS是一种四象限电源,可以提供正电压或负电压,同时具备拉电流和
  • 关键字: ADI  ATE  

英国Pickering公司公布三管齐下方案 应对产品淘汰问题

  • 2023年01月12日,英国克拉克顿——英国Pickering公司作为生产用于电子测试及验证领域的信号开关与仿真解决方案的主要厂商,于今日公布了一套正式方案,用于保护客户免受测试工程师在维护自动测试设备(ATE)时面临的最昂贵的挑战之一 —— 产品淘汰。“对于具有长生命周期的关键任务产品的部件,在制造和设计了初始测试系统的数十年后,仍需要进行测试。”Pickering公司的 CEO Keith Moore说,“当仪器供应商停止使用这些测试系统中的部件时 —— 这通常会让从事航空航天/国防、铁路运输或电力的
  • 关键字: Pickering  产品淘汰  ATE   

Wi-Fi芯片基于IFLEX量产测试开发浅析

  •   张桂玉,任希庆(安普德(天津)科技股份有限公司,天津 300384)  摘 要:本文测试的芯片是一款针对物联网市场开发的高性能2.4 GHz/5 GHz双频Wi-Fi射频芯片,支持802.11 a/b/g/n,Wi-Fi Direct、Soft AP以及STA/AP 模式共存。具有高速性、稳定性和传输距离远等特点,可以高度匹配音视频流媒体传输。广泛应用于无线流媒体音视频播放、虚拟现实、无人机、运动相机、车联网、工业控制、智能家居等领域。本文将对双频Wi-Fi芯片基于IntegraFlex平台量产测试开
  • 关键字: 202006  2.4G/5G  双频Wi-Fi芯片  ATE IFLEX  量产测试  硬件和软件  

芯片测试机面临新挑战,泰瑞达系列举措捍卫品牌

  • 集成电路自动测试设备(ATE,测试机)是检测芯片功能和性能的专用设备,据SEMI预测,2019年中国测试机占据后道检测设备的62.8%的份额(如图1)。数据来源:SEMI,赛迪顾问整理图1 2019年中国集成电路测试设备产品结构ATE测试的趋势是什么?为此,电子产品世界记者访问了泰瑞达业务战略总监翟朝艳(Natalian Der)女士,并深入了解了泰瑞达的产品特色与在华策略。1 芯片测试的新挑战为了捍卫电子产品的品牌,半导体公司可谓重任在肩:需要在芯片上整合多种功能,有高性能指标,很短的上市时间,合理的成
  • 关键字: 测试机  ATE  芯片  

利用ATE(自动测试设备)测试电源负载的数字可编程精密电阻

  • 图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE(自动测试设备)中用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位 电流输出型 DAC,即DAC08型DAC ,它
  • 关键字: ATE  自动测试  设备  测试电源  

罗德与施瓦茨成为首家通过RCS 5.3一致性用例认证的测试仪表厂商

  •   罗德与施瓦茨公司认证了基于IMS 的融合通信5.3(RCS5.3) 235工作组一致性测试用例中的24条用例,进一步展示了罗德与施瓦茨公司在4G 和IMS测试测量领域的领先地位,同时也是业界唯一的一个通过该认证的仪表厂家。  2018年3月21日,慕尼黑——这些用例是在新加坡召开的 GCF一致性和交互性工作组会议上通过的。融合通信(RCS)基于IP多媒体子系统可以支持不同的应用包括即时消息,在线提示以及在视频通话中共享多媒体内容等。由于不断增长的手机用户和移动网
  • 关键字: R&S  CMW-ATE  

自动测试设备(ATE)系统中的示波器需求

  • 自动测试设备(ATE)系统中的示波器需求-在测试电子器件时,很难不提到示波器所具有的通用性。为了对电子电路进行验证,工程师需要能够查看和测量其设计中的信号。自动测试设备(ATE)通常不提供大量可视化故障诊断,这对于必须安装、校准并对系统进行故障诊断的用户来说是一大挑战。这些操作需要可视化工具,示波器便能提供这种工具。
  • 关键字: ate  是德科技  pxie  示波器  

基于PXI平台的下一代半导体ATE解决方案

  •   半导体测试行业现状  电子行业正处于不断的压力下必须降低其制造成本。上市时间给半导体制造商很大的压力,在新产品投入市场后的很短时间内,利润是最高的,随后,由于竞争者开发了类似底价产品,利润水平开始下降。开发一个有效的节省费用的测试程序往往是阻碍新产品投入批量生产的瓶颈。  对于半导体供应商来说,其中测试成本一直被视为没有“增值”的成本。如图1所示,ATE资本成本占IC平均销售价格(ASP)的百分比逐渐变小 - 从2001年的5%上升到2010年的约1%。然而,整体器件的ASP也在减
  • 关键字: ATE  PXI  

挑战传统ATE,测试厂商发力半导体测试

  • 2017年春天开始,笔者有幸每个月接触一家测试巨头的高管,谈论2017中国市场的热点时,半导体测试是被提及的最多的一个,也是最让很多人意外的一个。
  • 关键字: ATE  PXI  NI  半导体测试  
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