- 随着科学技术的发展，大量技术含量高，内部结构复杂的电子产品正向“轻薄短小”和高功能化发展。由此而产生的电磁干扰所造成的危害也日益严重，引起了我国政府和世界各国的普遍关注。电磁兼容是电子产品的一项非常重要的质量指标，它不仅关系到电子产品本身的工作可靠性和使用安全性，而且还可能影响到其他电子设备和系统的正常工作，关系到电磁环境的保护问题。国际上如欧盟89/336/EEC指令（即EMC指令）、美国联邦法典CFR 47/FCC Rules等都对电磁兼容认证提出了明确的要求。解决产品设计中的电磁兼容性问题，对于
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电磁兼容设计 测试技术 测试测量
- NI LabVIEW DSP模块为德州仪器DSP提供了图形化编程环境 美国国家仪器有限公司发布了最新的NI LabVIEW DSP模块，它包含了用于设计、实现和分析基于DSP算法和系统工具。最新的LabVIEW DSP模块将LabVIEW图形化开发环境扩展至嵌入式信号处理应用程序，并且向工程师和学生提供了一个易于使用的、现成的方法来学习主要的信号处理技术。 “随着最新的LabVIEW DSP模块的发布，DSP开发者和学生拥有一个图形化和系统级的选
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NI 测试测量
- 凌华科技于2005年7月7日在深圳香格里拉大酒店举行的第二届“中国PXI技术和应用论坛” 上展出其完整的 PXI 量测自动化解决方案，以及最新推出的高效能GPIB 接口控制卡PCI-3488，以飨广大会者。同时参会的厂商还包括Chroma、Aeroflex等国内外业界知名企业。
在2004年举办的第一届“中国PXI技术和应用论坛”上，凌华PXI/PCI模块与平台就受到与会者的热切关注，此次活动凌华更带来了Pentium® M等级3U PXI系统控制器PXI-3800、14位130 MS/
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凌华 测试测量
- 世界领先的测试，测量和检测设备供应商泰克公司（NYSE：TEK）今天宣布将收购TDS Systems公司。位于俄勒冈州奥斯威格湖地区的TDA Systems公司是一家提供互联系统分析软件工具的供应商，该公司为电子测试行业的各厂商提供各种测试软件，其中就包括泰克公司。该公司提供的用于高速串行数据测试的软件将完全地融合到泰克的采样示波器产品线当中。. “TDA Systems同泰克多年来的合作非常成功，”泰克光电产品线总经理John Taggart说，“两家公司的合作为客户带来了完整的
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泰克 测试测量
- 由于苹果计算机iPod等可携式多媒体影音播放器（PMP）大量采用NAND 闪存作为储存媒体，全球各家DRAM大厂均看好NAND市场未来成长潜力，目前三星与东芝合计的全球市占率接近80％，过去以动态随机存取内存（DRAM）为主力的内存厂，则积极抢入生产，包括Hynix、美光、英飞凌皆已开始扩量NAND闪存。据了解，三星的2座12吋厂、Hynix的3座8吋厂、美光的1座12吋厂等，都开始以90奈米先进制程量产闪存，东芝与SanDisk合资的12吋厂也在6月开始大量投片。在市场供给量快速扬升之下，
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英飞凌 测试测量
- 此次订购使SGS 在上海及台湾的测试实验室得以扩展，且使Aeroflex 能够在中国创建及开拓增值的无线设计服务英国Burnham — 2005 年6 月23 日— Aeroflex 已赢得了领先的检测、验证、测试及认证公司SGS 数百万美元的订单。此次订购有望在两个月的时间内执行，其主要涉及了全套的手机和系统间切换测试仪器以及测试箱，它标志着SGS 已决心扩展其现有手机一致性测试业务的运营。Aeroflex 的仪器与测试箱旨在进一步促进其位于上海和台湾的两个SGS手机测试实验室提供这些服务。此次订购也使
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Aeroflex 测试测量
- 美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）即将于7月7日在深圳主办第二届“中国PXI技术和应用论坛” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC 2005），本届活动的主旨是：PXI——引领自动化测试技术的潮流，在线报名链接为：www.ednchina.com/pxitac。
2004年第一届PXI TAC在北京和台北两地成功举办，共有近千名来宾到场参加，延承去年的成功之势，本届论坛将于2005年7月
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NI 测试测量
- 前言
机械视觉应用在各种产业的生产制造及品质检测已是行之有年, 利用机械视觉可以提升检测精度或加速生产速度，因此逐渐变成许多生产检测设备必备的一环。 目前市面上的影像检测系统大多采用面扫描(Area-scan)的摄影机进行影像的采集及分析, 但是随着产品尺寸的加大(例如:PCB, LCD面板, 晶圆), 在提高产能及精度的要求下, 面扫描摄影机的分辨率及取像速度无法满足这些要求的事实开始浮上枱面, 而系统业者也开始意识到线扫描(Line-scan)摄影机的分辨率及取像速度才能满足这些时势所驱的产业需
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PS-based 测试测量
- 美国国家仪器有限公司近日宣布：为了支持广大高校理工科教师更好地开展LabVIEW图形化编程环境以及虚拟仪器技术课程的教学和实验，NI推出2005暑期高校教师LabVIEW免费培训。培训对象为已购买LabVIEW软件及相关软硬件的老师， 培训课程免费，差旅费和住宿费自理。
今年NI提供二套培训课程，分为LabVIEW Basic I 和 LabVIEW Basic II＋数据采集， 具体信息如下：
课程1： LabVIEW Basic I
课程2： LabVIEW Ba
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NI 测试测量
- 鉴于串行数据结构所具备的更高数据传输速率和更多样的信号格式，整个业界正逐步向串行架构转变，随之而来的是设计人员对逻辑分析仪所提出的更为苛刻的要求。当今的工程设计人员所面临的挑战在于他们需要在更短的时间内解决各种前所未见的串行数据测试问题从而将产品更快地投放市场，在这种情况下，他们需要一套全新的功能以应对这一挑战。TLA V5.0应用软件的诞生将大大增强逻辑分析仪在数字验证和除错等方面工作效率和生产力。拖放触发自动测试功能是最新版本的应用软件所提供的重要功能之一，5.0版本首次将一系列类似于示波器的自动测试
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泰克 测试测量
- 授权测试中心提升全球测试能力，有助加速将HDMI兼容解决方案推向市场 飞利浦电子公司今天宣布已在欧洲开办第一家高清晰度多媒体接口 (HDMI™) 兼容产品的授权测试中心 (ATC)。该中心位于法国卡昂市，是全球第三家 HDMI ATC。该中心的成立将提升全球测试能力，有助于加速将 HDMI 兼容解决方案推向市 场。此项声明标志着飞利浦致力于推动采用HDMI 技术的承诺，该技术可为互联的消费者提供下一代电视
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Philips 测试测量
- 安捷伦科技公司日前宣布，《测试和测量世界》2005年度测试工程师获得者 - Anthony Levandowski采用安捷伦Visual Engineering Environment (VEE) Pro，采集数据，测试其自动摩托车。Levandowski及其团队已经参加预计将在10月举办的2005年国防部高级研究项目局(DARPA)盛大挑战赛。本次比赛由美国国防部主办，要求无人值守的车辆在不到10个小时内，穿越美国西南部长达175英里的崎岖地形。蓝队由Levandowski及来自伯克里加州大学的其它工程
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安捷伦 测试测量
- 新闻发布——2005年5月——美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）于4月在上海国际会议中心成功主办第二届“设计、验证及测试论坛” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主题为“测试紧跟设计的步伐”。本届论坛总共吸引了逾500位工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会，其中97.1%的来宾表示“此次活动对他们的工作有所帮助”，70%将会推荐他们的同事参加明年的“设计、验证及测试论坛”
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“设计 验证及测试论坛” 测试测量
- 从2004年下半年开始，半导体的生产设备运转率呈下降趋势，Foundry各厂商业绩低迷，IDM各公司削减设备投资也影响到了对半导体测试设备的投资。 特别是平板电视、数码相机等产品的需求没有达到预计的增长幅度，SoC测试设备市场至2005年上半年为止仍持续低迷。但另一方面，在Memory相关制造商正式开展DDRII量产的背景下，对测试设备的需求向相对较好的方面发展，各国IDM制造商、Foundry厂商购入前道测试设备，后道厂商也继续购入高端、能同时测定多个Memor
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半导体 测试测量
虚拟仪器.测试测量介绍
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