消费类领域的融合正在加速，在消费类电脑以及通信应用中，由于每个设备不断地增添新的功能，它们之间的界线变得更加模糊。例如无线手机，仅此一个设备现已内置数码摄像机、视频、因特网与电子邮件接入、多媒体消息、
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SoC ATE 消费类 系统
图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE(自动测试设备)中用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位 电流输出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驱动电流-电压变换器 IC2A，IC2A又驱动功率 MOSFET Q1 的栅极。被测
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ATE 测试电源 负载 数字可编程
图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE(自动测试设备)中用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位 电流输出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驱动电流-电压变换器 IC2A，IC2A又驱动功率 MOSFET Q1 的栅极。
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ATE 测试电源 负载 数字可编程
电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
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ATE 射频测试 特征描述 WiMAX
事实证明，WiMAX收发器件有益于消费电子市场的发展，它们在此找到了多种用途，其中包括把WiFi热点连接到互联网。为确保器件按预想的那样工作，并且使它们迅速上市，器件制造商们需要先进的多功能测试设备和同样先进的
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WiMAX ATE 射频测试
图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE（自动测试设备）中用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位 电流输出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驱动电流-电压变换器 IC2A，IC2A又驱动功率 MOSFET Q1 的栅极。被
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ATE 测试电源 负载 数字可编程
理解ATE SPI (串行外设接口)大多数Maxim® ATE设计都采用了一个串行接口，以便从外部控制器件。这种串行接口 ...
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ATE SPI 串行外设
Boston Semi Equipment Group（BSE 集团）旗下公司 Test Advantage 今天宣布已经收购了位于菲律宾的一家面向自动测试设备 (ATE) 市场的硬件维修中心 Microstats, LLC。这两家公司将整合它们的产品、解决方案和共同的客户群，以增强 Test Advantage 在后端半导体市场的产品和服务。
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BSE ATE
Boston Semi Equipment Group（BSE 集团）旗下公司 Test Advantage 宣布已经收购了位于菲律宾的一家面向自动测试设备 (ATE) 市场的硬件维修中心 Microstats, LLC。这两家公司将整合它们的产品、解决方案和共同的客户群，以增强 Test Advantage 在后端半导体市场的产品和服务。
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Test Advantage Microstats 自动测试设备
首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷股份有限公司(纳斯达克代号：VRGY)，本次于半导体业界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所举办的2011年客户满意度调查中荣膺“最佳测试设备供应商“与“10大最佳晶片制造设备大型供应商“等两大奖项的肯定。
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惠瑞捷 自动测试设备
为了向半导体行业提供融合了设备专长与创新金融解决方案的独特组合，业内资深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布创办 Boston Semi Equipment, LLC(BSE 集团)。BSE 集团由私人集资，其目标是在半导体设备行业设定新的基准，将创新金融解决方案与经验、专长和基础设施结合起来，以支持全新和二手半导体生产设备的租赁、销售、订制改造和服务。
传统的资本设备融资解决方案过去一直无法支持
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半导体设备 自动测试设备
图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE（自动测试设备）中用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位 电流输出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驱动电流-电压变换器 IC2A，IC2A又驱动功率 MOSFET Q1 的栅极。被
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ATE 自动测试 设备 测试电源
中国目前唯一一个专注于工业组装技术与装备应用领域的专业展览会--第三届华南国际工业组装技术与装备展览会（Assembly Technology Expo China-ATE），将在成功举办两届的基础上，于2008 年8月26日至29日再次闪亮登陆深圳会展中心。
工业组装产品技术在整车制造和汽车零部件、电子及通讯设备、家用电器、医疗设备和机械制造行业等领域有着非常广泛的应用。华南地区作为全球制造业增长最快的地区之一，在电子信息产业发展、汽车制造等行业均远远领先于我国其他地区。数据分析显示，华南地区
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展会 ATE 道康宁 汽车 电子 通讯 家用电器 医疗设备
摘要：SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂，在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例，在其设计、测试和可制造性等方面进行研究，并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。
关键词：单芯片系统；面向测试设计；面向制造设计；位失效图；自动测试设备
引言
以往的系统设计是将CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等电路设计成IC后，再加以组合变成完整的系统，但现今的设计方式是
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SOC 单芯片系统 面向测试设计 面向制造设计 位失效图 自动测试设备
ATE 系统设计师经常要同时面对降低系统成本和提高系统灵活性的挑战。本文讲述 ATE 系统电源新的独特性能和如何帮助 ATE 系统设计师从容应对这些挑战。
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最大 灵活性 经济性 系统 ATE 输出 电源 实现 利用
自动测试设备(ate)介绍
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