- 美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布关于其S600系列参数测试系统的一组升级功能。其最主要升级是在每套测试系统中的嵌入式控制电脑上移植Linux操作系统（OS）。本项升级为其控制电脑提供更稳定的OS和更长的服务寿命，减少了用户升级新工作站和软硬件资源的开销。此外，此次固件升级相比原来基于UNIX的系统具有更高的测试产能。新软件授权（license）方法采用USB棒作为每套测试器的硬件钥匙，通过在不同工作站间的迁移缩短维护时间。
吉时利推出的该款采用Linux控制器的参数测试系统迎合了当
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- 安捷伦科技最新发布的 Agilent U2000 系列基于USB的功率传感器，与典型功率计和类似的功率探测解决方案相比，重量更轻，并有更高的性价比。由于使用这种功率传感器进行测量可不需要功率计或额外的硬件模块，因此能节省工作台空间，也使现场测试工作更简单、更容易。
U2000系列功率传感器可与各种 Agilent 信号源、频谱分析仪和网络分析仪配合使用，从而使这些仪器具有更精确的平均功率测试能力。除了USB设备即插即用的连通性所提供的简便、快速的设置外，U2000系列功率传感器还通过与组合众多功
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- 科利登系统有限公司推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT，用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。
Sapphire D-6432DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和DC参数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计（DFT）方法，助其显
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- 在工业生产测试过程中，经常要对温度、流量、压力等模拟量进行采集，对继电器、接触器等开关量进行控制，此外还有步进电机和伺服电机进行精确的位移控制。开发一种基于计算机的机床测试系统，把各种控制量集成在一起构成闭环控制系统很有必要。本文以一台计算机为主控制器，采用Windows风格接口软件，计算和测试速度快，信息处理能力强，系统集成度高，工作界面友好，操作方便，实现了多参数测试过程自动化，提高了测试效率和准确性。
系统主要功能及特点
系统以对机床性能影响大的参数集成测试为主要目的，具有以下功能
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- 引 言
传统的幅度、相位差、阻抗测量需要采用多个中小规模集成电路，不仅电路复杂，测量精度低，而且适用的频率范围窄，只能测量低频或中频信号。本文介绍利用美国ADI公司最近推出的AD8302芯片测量RF／IF幅度和相位差并计算阻抗。此芯片是测量幅度、相位差的首款单片集成电路，可广泛用于GSM(全球移动通信系统)，电力系统的阻波器、结合滤波器等领域。
1 AD8302性能特点
AD8302内含两个精密匹配宽带对数检波器、一个相位检波器、输出放大器组、一个偏置单元和一个输出参考电压缓冲器等，能同时
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- 知情人士独家透露，备受关注的TD-SCDMA商用进程出现全新进展，中国移动正组织20多款TD-SCDMA手机在8个奥运城市进行测试，测试结果将直接影响9至10月的终端采购，目前，中兴通讯、三星、LG等已在一些重要指标上率先过关，一些国产品牌手机还需努力。 中国移动开始手机测试 据悉，近日，中国移动在结束了TD设备采购后，已经开始动手测试TD终端的商用效果，该轮终端测试非常重要，结果将直接影响TD-SCDMA的商用进程，号称TD商用前“最后一公里”冲刺测试。
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- KLA-Tencor 发布高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350，使测量能力扩展至 45 纳米半导体器件。这个新设备配备半径低至 20 纳米的钻石探针和低噪音平台，从而提高了测量灵敏度，并使芯片生产商能够监控极其细微的横向和纵向尺寸。除这些突破之外，该系统还拥有更高的扫描速度，因而能在多种关键性晶体管和互连应用中提升系统生产能力。 “随着半导体器件的更新换代，在重要的蚀刻和化学机械抛光工艺中，形貌控制要求也越发严格。我们的客户需要一
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- 意法半导体宣布该公司的超小型“低g”线性加速计产品家族增加一个新的解决方案，新产品LIS244AL动作传感器在电路板占据一个面积很小的呈正方形位置，功耗极低，特别适合电池供电的便携应用，如手机、便携多媒体播放器或遥控器。 新的加速计在一个单封装内集成了一个可靠的双轴MEMS加速计传感器和一个CMOS接口芯片，该接口芯片提供两个同步实时模拟输出：一个是侧向（横向）运动输出信号，另一个是前后（纵向）运动输出信号。 新产品LIS244AL能够在极低的噪声下提供加速数值，需要
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- 美国模拟器件公司的 SRD Design Studio是针对短距装置（short range device）无线连接设计和仿真的软件工具。SRD Design Studio可以从ADI公司的网站上免费获得，用于帮助用户对基于ADI公司的ADF70xx系列SRD发射机和收发机的短距无线通信装置进行评估、设计和故障排查。ADF70xx产品针对自动抄表、工业自动化、安全保卫、家庭自动化、遥控以及其他低功率
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- 引 言
我国遥测记录设备经历了倍密度磁带机和旋转头磁带机两代产品，目前仍在使用。从记录原理上说他们皆属于模拟记录设备，在长期使用当中，已暴露出诸多缺陷：
(1)磁带耗材依赖进口，价格昂贵且记录容量小、重复使用率低、数据保存时间短。
(2)磁头和机械运带机构属精密加工器件，调校过程相当复杂，长期使用磨损严重，记录性能显著恶化，给设备维护带来极大不便。
随着计算机硬盘制造技术的飞速发展和数字存储技术的问世及不断应用，采用大容量高速硬盘记录模拟遥测信号的数字化
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- 日前，Aeroflex宣布推出用于模拟系统、TETRA及P25技术的新型3920数字射频综合测试仪。3920具有全新的增强特性，可为专业测试人员提供集成化的更多测试功能，便捷的远程遥控操作以及功能强大的文件管理功能。Aeroflex3900系列的新一代产品3920将取代原有的3901及3902射频测试仪。在具备更多新特性与新功能的同时，3920仍可支持先前3901及3902所能够执行的全部测试功能，其中包括TETRA移动台、基站及直通模式测试。
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- 意法半导体宣布该公司的超小型“低g”线性加速计产品家族增加一个新的解决方案，新产品LIS244AL动作传感器在电路板占据一个面积很小的呈正方形位置，功耗极低，特别适合电池供电的便携应用，如手机、便携多媒体播放器或遥控器。 新的加速计在一个单封装内集成了一个可靠的双轴MEMS加速计传感器和一个CMOS接口芯片，该接口芯片提供两个同步实时模拟输出：一个是侧向（横向）运动输出信号，另一个是前后（纵向）运动输出信号。 新产品LIS244AL能够在极低的噪声下提供加速数值，需要的功耗非常低，这在电池供电的便
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- 引 言
现代科技对系统的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技术在电子系统中应用已经非常广泛，因此FPGA易测试性就变得很重要。要获得的FPGA内部信号十分有限、FPGA封装和印刷电路板(PCB)电气噪声，这一切使得设计调试和检验变成设计中最困难的一个流程。另一方面，当前几乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的总线，除了提供高速并行总线接口外，正迅速向高速串行接口的方向发展，FPGA也不例外。每一条物理链路的速度从600 Mbps到10 Gbps，高速I／O的测试和验证更成为传统专注于FPG
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- KLA-Tencor日前发布业界最先进的高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350，使测量能力扩展至 45 纳米半导体器件。这个新设备配备半径低至 20 纳米的钻石探针和低噪音平台，从而提高了测量灵敏度，并使芯片生产商能够监控极其细微的横向和纵向尺寸。除这些突破之外，该系统还拥有更高的扫描速度，因而能在多种关键性晶体管和互连应用中提升系统生产能力。
“随着半导体器件的更新换代，在重要的蚀刻和化学机械抛光工艺中，形貌控制要求也越发严格。我们的客户需要一种单一系统解决方案，既可支持影响良率的纳米级应
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- 泰克公司日前宣布，其TDSHT3软件已经升级，支持HDMI一致性测试规范1.3b版。泰克TDSHT3软件现在支持最新CTS1.3b文件中规定的所有HDMI一致性测试要求。通过现在提供的这一升级软件，泰克为客户执行HDMI 1.3b一致性测试提供了最完整、最经济的测试套件。 泰克现在支持使用实时示波器、取样示波器、信号发生器、差分探头和测试夹具，根据CTS 1.3b规范执行物理层一致性测试。TDSHT3是装在泰克示波器上的一种HDMI一致性测试软
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测试测量 介绍
电子测试测量仪器：示波器（数字、模拟、手持式）、信号发生器（任意波、调频调幅、音频、射频）、频率计、电源、台式万用表、频谱分析仪、毫伏表、微欧
表、钳表、功率表、LCR、IC测试仪、耐压/绝缘测试仪……
通信测试测量仪器：光时域反射仪（OTDR）、光纤熔接机、光万用表、光源、光电话、光功率计、2M测试仪、协议分析仪、无线电综合测试仪、数字电缆分析测试
仪、电缆故障测 [
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