- 时间可控发射方法（TRE）是一种常用的非入侵式波形测量方法，它能从芯片的背面探测芯片内部节点的时序波形。完美 ...
- 关键字：
可控发射 模拟电路 失效分析
- 2.3 失效树分析法 失效树分析法是一种逻辑分析方法。逻辑分析法包括事件树分析法(简称ETA)、管理失误 ...
- 关键字：
可靠性 失效分析
- 失效分析在生产建设中极其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析结论要正确无误,改进措施要切实可行。 ...
- 关键字：
可靠性 失效分析
- 摘要：对一个复杂的设备进行故障诊断的时候，知识储备是最重要的。我们想要的并且需要去了解相关的一些问题。它 ...
- 关键字：
IC故障 失效分析
- 你是否长时间纠缠于线路板的失效分析?你是否花费大量精力在样板调试过程中?你是否怀疑过自己的原本正确的设 ...
- 关键字：
线路板 失效分析
- 摘要：由于铜丝键合可以替代金键合，价格又便宜，正在被越来越多地应用到微电子元器件当中。目前的情况表明铜是可行的替代品，但是证明其可靠性还需要采用针对铜丝键合工艺的新型失效分析(FA)技术。
- 关键字：
铜丝键合 MOSFET 金键合 失效分析 金属层 201308
- 摘要：驱动电路的性能很大程度上影响整个系统的工作性能。驱动电路的设计中主要考虑功能和性能等方面的因素。本文首先介绍了某平台的电机驱动电路，然后就实际工作及实验中驱动电路出现的失效信息作以分析，对问题进
- 关键字：
驱动电路 失效分析 H桥 PWM
- 为了找到并纠正抗辐射晶体管3DK9DRH贮存失效的原因，利用外部检查、电性能测试、检漏、内部水汽检测、开封检查等试验完成了对晶体管3DK9DRH的一种贮存失效分析。结果表明晶体管存在工艺问题，内部未进行水汽控制，加上内部硫元素过高，长期贮存后内部发生了氧化腐蚀反应，从而导致晶体管功能失效。对此建议厂家对晶体管的生产工艺进行检查，对水汽和污染物如硫元素等加以控制，及时剔除有缺陷的晶体管。
- 关键字：
3DK9DRH 辐射 晶体管 失效分析
- 文中通过热阻的测试原理分析和实际案例，分别从热阻测试条件、控制限、上芯空洞、倾斜、芯片内阻等几个方面，全面地阐述对热阻测试结果的影响，并通过数据统计形成图表，较为直观明了，总结出热阻测试失效的各种可能原因。
- 关键字：
热阻测试 原理 失效分析
失效分析介绍
您好，目前还没有人创建词条失效分析!
欢迎您创建该词条，阐述对失效分析的理解，并与今后在此搜索失效分析的朋友们分享。
创建词条
关于我们 -
广告服务 -
企业会员服务 -
网站地图 -
联系我们 -
征稿 -
友情链接 -
手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052 京公网安备11010802012473
