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第六届PXI技术和应用论坛成功举办

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作者: 时间:2009-06-02 来源:电子产品世界 收藏
  本次 TAC的主题演讲是由 中国技术市场工程师徐赟带来的题为“2009行业发展趋势”的演讲,报告从全球经济状况对于测量效率和测试成本提出的更为严格的要求,以及工程师面临的挑战将是如何寻找更为高效的测试方法等问题入手,分析了伴随着测试需求的多样化和复杂化,软件定义的仪器系统的广泛应用已成为行业重要的发展趋势和主流技术,帮助用户在提高效率的同时降低测试成本。伴随着软件为核心的测试理念,在新兴商业技术不断涌现的今天,测试测量行业也正呈现出五个重要的发展趋势:趋势一,软件定义的仪器系统成为主流;趋势二,多核/并行测试带来机遇和挑战;趋势三,基于FPGA的自定义仪器将更为流行;趋势四,无线标准测试的爆炸性增长;趋势五,协议感知(Protocol-Aware)ATE将影响半导体的测试。现场公司的展台也正是围绕着这五大主题及其相关应用所展开。


                                     图3 观众正在聆听主题演讲

  本次大会在主题演讲部分还特邀了清华大学汽车工程系的卢青春教授为观众带来在快速原型及硬件在环仿真应用中的前沿研究成果,应用同样的平台从测试领域跨越到控制和设计领域。卢教授特别从最近热点的混合动力汽车设计测试应用入手,客观的分析了PXI技术与专用汽车测试软件在实际应用中的各自优势与不足。

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/94871.htm

  在现场应用展示区内,联手泛华测控、聚星仪器、凌华科技、Aeroflex、Pickering、VPC、Mac-panel和海泰电子八家国内外知名的PXI供应商和集成商,通过现场产品展示盒技术咨询等方式,与到会观众分享PXI技术的最新行业应用及发展趋势。

  大会的分论坛分为三个大的主题,分别是自动化测试平台、行业应用专题、PXI开发者专题,来自NI、凌华科技、泛华测控、海泰电子和聚星仪器等公司的演讲嘉宾从多个角度带来了关于PXI的不同技术应用介绍,带给现场观众关于PXI技术和应用的全方位感知。比如,PXI开发者专题演讲部分来自美国的专家为现场观众详细讲解了PXI和PXI Express技术的详细规范细节和开发技巧;再如来自凌华科技量测产品事业处的产品总监刘国安先生为与会的观众带来了主题为“高速+高精度+易用——如何利用高精度PXI数字化仪构建多信道采集系统”的精彩演讲。演讲通过典型的应用案例开始分析,深入浅出的介绍了如何利用PXI系统及PXI数字化仪,构建一个高速且高精度的数字化仪分析系统,以及如何利用此系统,有效缩短采集系统的开发时间,并在易用的前提下达到高速、高精度的分析效率。

  全天的会议,到场的观众普遍反映收获颇多,在每个演讲大厅和每个技术展示台前随处可见到场观众和现场技术支持人员之间的热切交流,记者随机采访了一位来自航天应用领域的工程师,他坦言,以前对PXI技术的了解不是很多,今天通过全天会议的观摩和报告,对该技术有了很多认识,感觉有机会将其应用到自己的工作中,特别是卢教授报告中的经验,完全可以向自己工作的领域移植,这样可以有效提高自己工作的效率并节约成本。

 
                        图4  大会现场展示的易拉宝

 
                               图5  介绍自动化测试发展趋势的宣传板

 
                               图6  PXI TAC大会的签到前台

 
                     图7 观众在各个参展公司的展台前


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关键词: PXI 测试测量 NI

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