一种数字集成电路测试系统的设计 —— 作者:西安交通大学廉海涛张克农王红雨赵云鹏常羽飞 时间:2005-11-02 来源: 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构,可测试电平范围宽。 关键词:数字集成电路测试功能测试通道板精密测量单元 随着数字集成电路的广泛应用,测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性试验及测试系统项目中,需要检验某些具有宽电平范围的军用数字集成电路芯片,而市场上常见的中小型测试系统可测电平范围达不到要求,而大型测试系统价格昂贵。本文介绍了为此项目研制的一种数字集成电路测试系统,可测电平范围达
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