电感案例：低功耗电源的电感选择

在对磁芯施加磁场时(对线圈施加电流),方向不同的单元相互之间相关联。当足够强的电流形成外加磁场时,那些靠近线圈的单元所处的磁场更强,会首先形成联合(更大的单元)。而此时处在深一层的单元还未受到磁场的影响。联合起来的单元与未受到影响的单元之间的单元壁会在磁场的作用下,持续向磁芯中心移动。如果线圈中的电流不撤销或翻转的话,整个磁芯都将会联合在一起。整个磁芯的磁针联合在一起,我们称为“饱和”。电感制造商给出的B-H磁滞回线正表示磁芯从被磁化的初始阶段到饱和阶段的过程。如果将电流减弱,那么单元就会向自由的初始态转变,但是有些单元会继续保持联合的状态。这种不完全的转化就是剩磁(可以在磁滞回线中看出)。这种剩磁现象就会在下一次单元结合时体现为应力,导致磁芯损耗。

每个周期内的磁滞损耗为：

WH=mH×dI

式中积分为磁滞回线中的包罗面积,磁芯从初始电感量到峰值电感量,再回到初始电感量的整个过程。而在开关频率为F时的能量损耗为：

PH=F×mH×dI

计算这些交流损耗看起来似乎容易。但是在高频、中等通流密度下,情况将异常复杂。每个电路都存在一些对磁芯损耗有影响的参数,而这些参数一般都很难量化。比如：离散电容、pcb布局、驱动电压、脉冲宽度、负载状态、输入输出电压等。不幸的是,磁芯损耗受这些参数影响很严重。

每个磁芯材料都有能导致损耗的非线性电导率。正是这个电导率,会由于外加磁场而在磁芯内部诱发会产生损耗“涡电流”。在恒定磁通量下,磁芯损耗大致与频率n次方成正比。其中指数n会随磁芯材料以及制造工艺不同而不同。通常的电感制造商会通过磁芯损耗曲线拟合出经验的近似公式。

电感参数

磁感应强度B在正激开关电路中可以由下式表示：

Bpk=Eavg/(4×A×N×f)

式中Bpk为尖峰交流通流密度(Teslas);Eavg为每半周期平均交流电压;A为磁芯横截面积(平方米);N为线圈匝数;f为频率(赫兹)。

一般来讲,磁性材料制造商会评估磁芯的额定电感系数－AL。通过AL可以很容易的计算出电感量。

L=N2AL

其中AL与磁性材料的掺杂度成正比,也与磁芯的横截面积除以磁路长度成正比。磁芯的总损耗等于磁芯的体积乘以Bpk乘以频率,单位为瓦特/立方米。其与制造材料与制造工艺息息相关。

磁芯损耗测试设备

测试电感性能的最有效方法就是将被测试电感放置在最终开关电源电路上,然后对此电路的效率进行测量。但是,这种测试方法需要有最终电路,不易采用。现在,有一种相对简单的测试方法,可以在设计开关电源前对电感的磁芯损耗进行测试(在其设定的开关频点上)。首先,将磁芯串连放置在低损耗电容介质上(比如镀银云母)。然后,用一系列共振模驱动。其中介质的电容值需要与被测电感的开关频率一致。最后采用网络分析仪来完成整个测试过程(信号发生器加上一个射频伏特计或者功率计也可以完成测试)。测试设备的结构如图2所示

图2测试测试剖面图

在谐振点,低损耗的磁芯可以看成L-C共振回路。此时损耗可以等效为一个纯阻元件(包括线圈损耗和磁芯损耗)。在上面的测试设备中,端子A和R都连接着50Ω电阻。此设备的开路(不包括电感)等效为150Ω负载的振荡器。在网络分析仪上可以表示为：

20×Log(A/R)=20×Log(50/150)=-9.54dB

在这个测试电路中,谐振电容为2000pF,被测电感大概为2.5mH～2.8mH,测试频率为1kHz。其中,磁性材料的渗透率是一个与频率有关的非线性函数,在更高的频点上,测试结果有可能不同。

磁芯损耗实验数据

一个相对磁导率为125mr的单层铁镍钼薄片磁芯,外围缠绕10/44的多芯电线16匝,另一个双层250掺杂度的镍铁钼磁粉芯,外围缠绕10/44的多芯电线8匝。电感量测试值分别为2.75mHy和2.78mHy。第一个电感虽然是16匝,但是横截面积是第二个电感的一半。在相同振幅信号的驱动下,这两个电感的损耗都很高。等效电阻分别为360Ω和300Ω。相对的,另一个电感(2.5mHy)采用Micrometals公司的非常低的掺杂材料(羰基T25-6,相对磁导率为8.5)。10/44多芯电线34匝。在同样的驱动信号下,他的等效损耗电阻为22000Ω。

对于低功耗开关电源的电感选取有许多特殊注意之处。对于低功耗、高效率的开关电源设计,一般的器件资料或者选型表提供的参数是远远不够的。通常的电感都是铁氧体磁芯(非低损耗材料),必将逐步在低功率、高效率的应用中淘汰。一种相对简单的电感损耗测试设备可以在设计的频点测试电感的损耗,对比不同电感的性能。

当设计需要选取低损耗电感时,应选取低掺杂度材料来获得低的磁场强度参数-B。并选择低损耗的磁芯或考虑采用多芯电线。并且,最好采用芯片公司推荐的磁性元件,或者向专业的磁材料专家请教,以便能够满足特定的需求。