确保USB3.0电路可靠性 选对PTC/ESD方案是关键
加入技术交流群
举例来说，瞬态电压抑制（TVS）二极体和二极体阵列有较低的动态电阻，提供卓越的箝位元性能，并能保持非常低寄生封装电容。图4显示矽方案的箝位元性能与MLV ESD保护技术的比较，以矽为基础的解决方案的箝位元电压更低。
图4 矽电阻与压敏电阻的箝位元性能比较
TVS二极体阵列提供多通道ESD保护解决方案（图5），成为目前USB 3.0保护的最佳选择。该类元件能吸收瞬态电流，并泻放电流，同时透过雪崩或齐纳二极体箝制电压位准。如图6所示为USB 3.0静电保护方案架构图。
图5 保护USB 3.0电路的TVS二极体阵列示意图
图6 上为USB 3.0静电保护方案架构图；
USB 3.0电路保护元件对维护资料完整性也非常重要，任何附加电容都可导致讯号失真，并降低讯号的可靠性。测试静电抑制器的寄生电容对讯号完整性影响的主要方法是进行眼图测试，此测试须重复采样数位讯号，并在示波器上显示出眼图，用来定义可接受的讯号品质和依从性。
评论