SEMICON 2025 | NI 6大半导体测试方案全解析

SEMICON CHINA将于2025年3月26日至3月28日在上海新国际博览中心隆重举行，届时，NI（恩艾中国）将携最新的产品及最前沿的技术亮相，诚邀国内外嘉宾莅临NI展台（N2馆，展位号N2707）进行指导交流。

01 锁定NI展位

时间：3月26日至3月28日

地点：上海新国际博览中心

NI 展位号：N2馆，展位号N2707

02 现场演示

★ Wi-Fi 7 / UWB 无线测试系统

NI推出的最新矢量信号收发器PXIe-5842 VST,可以覆盖30 MHz - 26.5 GHz整个频率范围，具有高达2GHz的瞬时带宽。

★ PMIC / ADC自动化测试平台

NI为多通道电源管理芯片（PMIC）设计的自动化测试平台不仅提供了灵活的硬件配置，以适应不同的通道数量，还配备了高效的软件测试方案。

★ 自动化生产测试STS系统

STS (Semiconductor Test System)是为快速部署和高性能设计的自动化测试系统，广泛应用于自动化生产测试（APT）,尤其是在射频（RF）测试领域。

★ 功率半导体可靠度测试系统

对于H3TRB动态测试，SET提供的系统可将行业的扩展要求转化为自动动态测试。系统特别注重灵活性，以便能够快速满足不断变化的要求。

★ 光电子测试方案

NI为光电子的DC测试提供了优质的解决方案，电学及光学测试仪器和仪表均可集成在同一个PXI平台中，利用NI的软件硬件平台优势，加速光电子测试的效率。

★ 孤波MCU实验室自动化测试方案 ——赋能高标准车规芯片验证

孤波MCU实验室自动化测试方案 ——赋能高标准车规芯片验证。