大量均匀分布几何元素的快速测量方法
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在测量中，高级复制功能有3种操作可供选择：平移复制、旋转复制和镜像复制。下面依次说明如何使用这些功能。
一、平移复制
当大量同类型基元规则的平行分布时，可以使用平移复制来完成测量。
举例说明：如图1所示的工件，需要测量5行6列所有完整的圆，已知圆与圆之间等距(圆心距离：X=3mm，Y=3mm），那么可依据以下步骤快速编程来进行测量。
图1 工件图像
2. 在第一个基元上点击右键，选择菜单中的“复制基元”，出现如图2所示窗口；
图2 准备复制
图3 复制X向基元
图4 复制Y向基元
二、旋转复制
当工件上同类基元以相同的角度规则分布时，则可以利用旋转复制快速的测量。
举例说明：如图5所示，需要测量图像上的4个圆。
首先提取中心圆，以圆心为原点建立坐标系；
图5 建立坐标系
图6 提取圆
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