是德科技TD-LTE基站性能测试方案

如果测试环境确实希望使用外置信道仿真器，则只需使用是德科技N5182B/N5172B射频信号发生器即可完成上述系统的测试。典型的测量系统如图3所示。

图3 N5182B/72B MXG-B测试系统 2.2 软件平台

PXB或N5182B/72B通过Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 软件产生特定的参考测试信号，并实时地调整编码冗余因子。

图4 上行信号配置

图5 HARQ设置 2.3 反馈信号格式

基站下发给PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信号以RS232C串行通信的数据格式进行编码，PXB或N5182B/72B根据相同的编码速率和格式进行解码得到ACK/NACK值。反馈信号由8个比特组成，1个起始位，1个停止位，无奇偶校验位。具体的数据格式如表2所示。

3 测试结果

按照测试结构图搭建好测试系统并配置软件平台，启动基站及PXB或N5182B/72B，同时在示波器和基站控制端观察测试结果。

图6 PXB或N5182B/72B实时响应图

6为示波器上观察到的PXB或N5182B/72B实时响应。通道1、2、3和4分别为上行信号帧头、ACK/NACK指令序列、上行信号I/Q数据以及 PXB或N5182B/72B的ACK/NACK响应(高电平为ACK，低电平为NACK)。如图所示，HARQ时序响应与标准协议完全相符。

基站端对上行射频信号进行分集接收并解调，然后通过CRC校验对接收结果作出判断，最后得到在特定衰落模型下的系统吞吐率。

根据3GPP TS 36.141规定，选取PUSCH，20MHz带宽信号作为测试案例。在2根接收天线，Normal CP下，按照列出的前10个Case依次测试，结果如下：

4 结论

结果表明，系统完全满足标准测试要求。测试过程透明可见，结果显示直观可信。同时，该测试系统在不添加任何硬件配置的情况下，仅仅通过软件配置即可实现 1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，从而实现基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性能测试，是TD-LTE基站性能测试的理想平台。

推荐方案：是德科技基带信号发生器与信道仿真仪 N5106A PXB配合信号发生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整体解决方案;如果测试系统已有专用信道仿真器，则可使用是德科技信号发生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成最终测试