Aeroflex应用于LTE基带、RF和协议的测试解决方案
实际环境条件性能测试和数据吞吐量测试
7100具有LTE基带衰落、AWGN和内置RRM测试功能,可在实验室模拟各种实际环境下的信号条件。采用这种基于软件的创新无线技术,不仅可以减少增加衰退测试环境的成本,而且可在设计过程中提前完成测试,降低后期重新设计的费用,并减少现场实验的成本和时间。
专门用于协议记录与分析的LTE开发模式
7100开发模式专门支持协议栈开发和集成,L1、L2和L3协议层记录功能,可用于调试和解决开发过程中出现的问题。信息过滤和搜索功能便于导航。利用“场景向导”提供的简易拖放图形界面可轻松创建采用所有LTE子层的定制测试场景。
UE和基站LTE参数测试
3410系列数字射频信号发生器: 3410是一款灵敏的小体积射频信号发生器,它集宽广频率覆盖与高性能矢量调制功能于一体,是用于无线通信系统及部件测试的理想解决方案。为满足针对 802.11a、WiMAX、LTE或多载波UMTS等宽带宽调制系统测试的苛刻要求,所有3410系列数字射频信号发生器现在都具有增强的EVM性能。
LTE UE制造测试仪PXI
PXI 3000系列为LTE设备和组件厂商应对LTE生产测试中的挑战提供成熟、快速、灵活的解决方案。艾法斯设计的LTE制造测试解决方案,充分利用了艾法斯 PXI 3000为全球领先移动设备和芯片组厂商带来的优点。
PXI 3000 LTE测量套件在艾法斯率先推出的研发测试系统成功经验基础上构建,具有模块化PXI平台相同的测量性能,并提高了速度和灵活性,有助于LTE厂商顺利完成产品开发到量产的过渡,快速满足LTE设备不断增长的需求,同时保证产品质量并降低测试成本。
PXI 3000采用多种技术最大化设备测试的生产能力和产量,快速满足市场需求。
PXI 3000 LTE测试功能
LTE分析支持1.4 MHz至20 MHz所有带宽以及QPSK、QAM16和QAM64调制类型的 FDD和TDD上行链路(SC-FDMA) 传输。艾法斯 PXI RF数字化仪与信号发生器任意组合可对所有3GPP频段进行LTE测试。
除数值测量结果,LTE测量套件还提供频谱包络、互补累积分布函数 (CCDF)、星座图、EVM对载波 (EVM vs.Carrier) 和EVM对符号 (EVM vs. Symbol) 跟踪显示功能。采用VB、C++或 .NET的全面可编程软件界面便于用户针对特定要求修改、调整测试系统。LTE产品所用部件也可采用IQCreator波形生成软件进行上行链路和下行链路 LTE FDD与TDD激励响应测量。IQCreator是各种AeroflexPXI数字射频信号发生器模块的一种附加选产品。
模块化PXI 3000平台可以随着测试要求的增长逐步扩展测试能力。系统可首先用来测试单天线设备,当开始生产带有多个发射天线的UE时,系统可通过简单的升级扩展MIMO支持。
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