Aeroflex应用于LTE基带、RF和协议的测试解决方案

　　实际环境条件性能测试和数据吞吐量测试

　　7100具有LTE基带衰落、AWGN和内置RRM测试功能，可在实验室模拟各种实际环境下的信号条件。采用这种基于软件的创新无线技术，不仅可以减少增加衰退测试环境的成本，而且可在设计过程中提前完成测试，降低后期重新设计的费用，并减少现场实验的成本和时间。

　　专门用于协议记录与分析的LTE开发模式

　　7100开发模式专门支持协议栈开发和集成，L1、L2和L3协议层记录功能，可用于调试和解决开发过程中出现的问题。信息过滤和搜索功能便于导航。利用“场景向导”提供的简易拖放图形界面可轻松创建采用所有LTE子层的定制测试场景。

　　UE和基站LTE参数测试

　　3410系列数字射频信号发生器： 3410是一款灵敏的小体积射频信号发生器，它集宽广频率覆盖与高性能矢量调制功能于一体，是用于无线通信系统及部件测试的理想解决方案。为满足针对 802.11a、WiMAX、LTE或多载波UMTS等宽带宽调制系统测试的苛刻要求，所有3410系列数字射频信号发生器现在都具有增强的EVM性能。

　　LTE UE制造测试仪PXI

　　PXI 3000系列为LTE设备和组件厂商应对LTE生产测试中的挑战提供成熟、快速、灵活的解决方案。艾法斯设计的LTE制造测试解决方案，充分利用了艾法斯 PXI 3000为全球领先移动设备和芯片组厂商带来的优点。

　　PXI 3000 LTE测量套件在艾法斯率先推出的研发测试系统成功经验基础上构建，具有模块化PXI平台相同的测量性能，并提高了速度和灵活性，有助于LTE厂商顺利完成产品开发到量产的过渡，快速满足LTE设备不断增长的需求，同时保证产品质量并降低测试成本。

　　PXI 3000采用多种技术最大化设备测试的生产能力和产量，快速满足市场需求。

　　PXI 3000 LTE测试功能

　　LTE分析支持1.4 MHz至20 MHz所有带宽以及QPSK、QAM16和QAM64调制类型的 FDD和TDD上行链路（SC-FDMA） 传输。艾法斯 PXI RF数字化仪与信号发生器任意组合可对所有3GPP频段进行LTE测试。

　　除数值测量结果，LTE测量套件还提供频谱包络、互补累积分布函数 （CCDF）、星座图、EVM对载波 （EVM vs.Carrier） 和EVM对符号 （EVM vs. Symbol） 跟踪显示功能。采用VB、C++或 .NET的全面可编程软件界面便于用户针对特定要求修改、调整测试系统。LTE产品所用部件也可采用IQCreator波形生成软件进行上行链路和下行链路 LTE FDD与TDD激励响应测量。IQCreator是各种AeroflexPXI数字射频信号发生器模块的一种附加选产品。

　　模块化PXI 3000平台可以随着测试要求的增长逐步扩展测试能力。系统可首先用来测试单天线设备，当开始生产带有多个发射天线的UE时，系统可通过简单的升级扩展MIMO支持。