EMI测试那点事——高速数据引起的EMI问题

此时底噪明显下降，280MHz处为-71dBm，当我们再将频谱分析时间段右移至完全没有突发幅度处时，得到如下测试结果：

此时底噪已经降低到-85dBm一下，原来280MHz频点处被底噪淹没的-73dBm的信号此时已经显现出来。

由于该电路板EMI呈周期性变化，既然FPGA的设计难以在短时间内更改，我们能否通过有效的控制手段，让有用的射频信号在突发周期间隔中底噪较低的时刻发射，而在突发幅度时刻不发射有用信息？客户认为此方法可行。底噪呈周期性变化，必定与电路板中某种控制信号相关，虽然我们已经测试出突发底噪变化的周期，但如果我们不知道这种周期与哪种控制相关，上述设想就难以实现。客户对其内部控制时序相当熟悉，94uS的周期刚好是该电路板高速USB信号传输控制周期。为了验证这一假设，我们将MDO示波器通道1接到高速USB控制测试点，同时测试射频频谱，得到如下结果：

以上测试结果充分证明了通道1中的高速USB信号与底噪突发抬升的规律相同，证明二者相关。高速USB的时序由嵌入式程序控制，因此只要在程序中控制射频在高速USB信号发出后延迟50uS发射，发射持续时间小于40uS即可。

案例总结：

本案例利用MDO跨域分析及调制域分析功能，成功地确认EMI与高速USB信号相关，通过时序控制，跨域有效避免以前难以解决的问题。