手把手教你如何进行USB3.0发射机测试
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图10.12英寸和24英寸PCB轨迹的幅度和相位响应。
参考测试通道
可以通过两种方法捕获TP1的“远端”信号。第一种方法使用USB-IF基于硬件的电缆和夹具，在TP1处采集数据。第二种方法使用从TDR、VNA或仿真器中提取的模型，在软件中仿真硬件通道效应。公认的通道模型是一个S参数文件，其中包括幅度和相位响应影响。先在TP2处或距发射机最近的地方采集信号，然后使用S参数文件对采集的数据求卷积，这个S参数文件已经被转换成一个有限脉冲响应(FIR)滤波器(如需更多地了解泰克示波器上的滤波器应用，请参阅www.tektronix.com上的白皮书“任意FIR滤波器的原理、设计和应用”)。
通过这种方法，工程师可以使用变化而又重复的具体通道要求测量被测器件。例如，我们比较一下不同PCB轨迹长度中的5 Gb/s信号测量结果。图9显示了连接到12英寸和24英寸轨迹的ISI测试电路板，图10提供了相应的Sdd21通道响应。
图11.12英寸轨迹的硬件通道仿真和软件仿真。
图12.24英寸轨迹的硬件通道仿真和软件仿真。
在包括硬件通道时、在没有包括硬件通道时都要采集测试信号。图11和图12显示了每个轨迹长度的原始信号(白色)、远端硬件响应(橙色)和使用S参数数据卷积后的原始信号。图13包括来自基于硬件和基于软件的测试数据的眼图。
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