OLED光电性能综合测试系统的方案

　　4　系统软件设计

　　4.1　下位机软件设计

　　系统软件采用Ｃ语言编写，在ＩＡR公司提供的集成调试环境Workbech下采用模块化思想进行设计。系统的软件程序固化在MSP430F149单片机的内部Flash存储器中。系统的程序流程如图4所示。整个流程可分为初始化、命令解析、数据测量、数据处理及显示程序。程序设计借鉴实时操作系统的思想，划分事件和目标。系统按照工作过程共有命令解析、联机、校准、测量判断、数据采集、数据打包发送等几个事件，通过对事件的处理来完成相应的功能，并进行必要的状态转换。当电压改变后，接收到测量命令，进入测量状态，将数据发送并显示，回到空闲状态继续等待命令然后进行相应的操作。

　　4.2　上位机软件设计

　　上位机软件使用visual　C++编写，进行由上到下的模块式总体设计，通过visual　C++中的串行通信编程控件ＭＳＣｏｍｍ，采用事件驱动方法接受数据。图5所示为系统的总体设计框图。

　　上位机软件管理系统由参数设置、实时监测、信息查询分析显示及其他辅助功能组成。

　　系统是集电压、电流、亮度和温度的自动采集、预处理、数据存储为一体的综合信息平台。使用RS-232通信实现程控电源、下位机和计算机的通信，实时获取亮度、温度、电流数据，把当前电压下对应的亮度、温度和电流值存入数据库中，并绘制出实时曲线。在历史数据查询中，可以对不同结构的OLED器件的测量结果进行对比分析。

　　5　结论

　　提出了一种以微控制器为核心的OLED光电性能综合测试系统的方案，系统可以在一个平台上同时对发光器件的各种光电特性进行测量，实现了光电特性实验的计算机化。OLED光电性能综合测试系统的开发过程和实际应用表明，该系统可以实现快速、准确、可靠的自动化测量，提高了工作效率。