基于BIST的IP核测试方案 作者： 时间：2011-11-30 来源：网络 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a635e61e&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a576c0a2&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 此模式选择模块实现状态之间的切换，电路简单，易于实现。 5 结束语 BIST为嵌入式内核的测试提供了一个可解决的方案，其测试效果明显，故障覆盖率较高，实现简单。通过加入测试外壳可以实现对IP核的访问、隔离、控制，有效地提高了IP核的可测性。但是采用BIST会使电路面积增加额外开销，必须在IP核的可测性和面积之间进行权衡。 上一页 1 2 下一页
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