一种改进的基于扫描的电路设计

　　多输入特征寄存器（Multiple Input Signature Reg—ister，MISR）是线性反馈移位寄存器的一种。如图3所示，将待测电路的输出部分加入线性反馈移位寄存器里，就成为一个多输入特征寄存器。

　　多输入特征寄存器最主要的特性是它的状态。即其寄存器的值，不仅与现在的状态有关，还与当时的输入值有关，可以表示为：Next state=MISR（Cur—renLstate，Input），而其中MISR（……）可以代表特征式不同的多输入特征寄存器。

　　3 基于扫描的测试架构的改进

　　为了减少基于扫描的电路设计的测试时间，就必须深入了解它的电路设计，了解为何其会消耗那么多的测试时间，然后来改进测试架构。

　　3.1 用向量压缩来减少测试时间

　　在测试过程中，我们有时可以发现，我们将要传入扫描链的测试向量，已经部分地包含在已经传入的测试向量序列中了，如图4所示。V1向量的后半部分刚好等于V2向量的前半部分“1010”，如果在传输向量的时候，先传输V1再传输V2，那么我们就只需要将V2的后半段向量信息传入扫描链就可以让V2原本的信息在扫描链中完整地呈现，如图中V3所示。很明显，我们原来要输入的测试向量的长度为16位，压缩后只有12位，节省了V2的前半部分传入扫描链的时间，从而减少了测试的时间，而且测试信息也没有减少，不会影响故障覆盖率。

　　3.2 用TEST—Per-Clock来缩短测试时间

　　我们对造成测试时间不够理想的原因进行分析：

　　传统的基于扫描的测试电路是采取TEST—Per—Scan的方式来进行测试的，也就是说要先将测试向量扫描到电路内的由扫描寄存器所组成的扫描链内。然后才可以完成一次测试；将测试向量扫描到待测电路这个步骤是一位一位地进行的，所以如果一个电路需要长度较大的测试的向量时，那么在这整个测试过程里。将会花很多的时间在将测试向量输入到扫描链的这个步骤上，从而增加了测试时间。这个结构的测试向量的产生是利用LFSR产生出的伪随机向量，并将其送入电路做测试。用LFSR产生测试向量会产生出许多没有作用的测试向量，而这些没有作用的测试向量又会产生大量多余的时间将其送入扫描链中，造成测试时间更严重的浪费。如果采用TEST—Per—Clock的方式做测试，在扫描链里原本的测试向量，在用一个时钟的时间移进来一位之后，扫描链所含的值即是测试向量，对待测电路而言，其实都是一个新的测试向量，而且也具有伪随机向量的特性，如果此测试向量是有效的，我们的测试时间就只用了一个时钟的时间，而如果此测试向量无效，原本测试到没有作用的测试向量时所需的付出的时间代价，由于用了新的测试向量填满整个扫描链所需的时间，减少到只需一个时钟移进一位的时间。