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安捷伦发布适用于电子测量的多功能分析仪

作者: 时间:2013-02-20 来源:慧聪电子网 收藏

  科技公司日前宣布推出Agilentx1149边界

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/142138.htm

  边界扫描已经成为工程师们在应对日益增加的测试接入挑战时必不可少的技术。x1149边界是一款功能广泛、使用方便的电路板测试工具,能够帮助用户进行电路板设计和验证,以及在生产过程中重复进行相同的x1149测试。

  该分析仪提供了直观的操作界面,您只需点击一下鼠标便可在屏幕上轻松浏览所有信息。关键特性包括:

  •覆盖扩展技术和硅钉能力。

  •直接使用STAPL标准文件用于CPLD/FPGA的烧录。

  •扫描路径链接器(ScanPathLinker)可将多条链路连接到一条链路上。

  •完全兼容的器件支持IEEE1149.1和IEEE1149.6标准。

  测量系统事业部总经理BoonKhimTan表示:“在iNEMI调查中,90%的受访者认为内置自测(BIST)功能是产品测试的关键;而60%的电路板设计人员表示自己需要使用BIST对电路板的性能进行验证。BIST的接入方法主要是通过边界扫描进行接入。”

  “x1149边界为满足业界更多BIST需求而特别设计的。我们持续致力于为客户提供最佳的投资回报,x1149就是证明。它是一款多功能的仪器,可在从设计和验证到批量生产的整个产品开发过程中使用。所有仪器均具有相同的测试可过渡移植性、可靠性和稳定性,这是安捷伦解决方案的标志性优势。”



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